HC-QB-HC-QB雷達物位計-金湖宏創(chuàng)儀表有限公司

品牌	宏創(chuàng)	型號	HC-QB
類型	雷達物/液位計	測量范圍	0-70M
測量精度	1MM	壓力等級	6（Mpa）
分辨率	1mm

性與優(yōu)勢：
無盲區(qū)，高精度
兩線制技術，是差壓儀表、磁致伸縮、射頻導納、磁翻板儀表的優(yōu)良替代產品。
不受壓力變化、真空、溫度變化、惰性氣體、煙塵、蒸汽等環(huán)境影響
安裝簡便，牢固耐用，免維護
HART或PROFIBUS-PA通信協(xié)議及基金會現場總線協(xié)議，標定簡便、通過數字液晶顯示輕松實現現場標定操作，通過軟件GDPF實現簡單的組態(tài)設定和編程
測量靈敏，刷新速度快。
適用于高溫工況，高達200℃過程溫度，當采用高溫延長天線時可達350℃

測量原理
雷達物位計天線發(fā)出微波脈沖，在被測物料表面產生反射，并被雷達系統(tǒng)所接收。

輸入
天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D

輸出
通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于4－20mA輸出。
測量盲區(qū)
盲區(qū)（BD）是從測量參考點到zui高物位時的介質表面的zui小距離。