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液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢

液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)

GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC68-2-14 試驗(yàn)N：溫度變化

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB 2423-22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗(yàn)方法

MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法

主要參數(shù)

n溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃

n測試時間： ≥10min

n溫度轉(zhuǎn)換時間：≥30S

n測試方式：試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中