受歡迎的高低溫老化試驗(yàn)箱//價(jià)格走向   

高低溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍：(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)～+150℃  

2、濕度范圍：20～98%RH  

3、溫度均勻度≤±2.0℃  

4、溫度波動(dòng)度≤±0.5℃  

5、濕度波動(dòng):+2-3%RH  

6、降溫速率：0.7℃～1℃(空載狀態(tài)下)  

7、升溫速率：1～3℃(空載狀態(tài)下)  

高低溫老化試驗(yàn)箱溫濕度范圍：  

降壓時(shí)間:≤45min(常壓～0.5kPa)  

降溫速率:0.7～1.0℃/min  

溫度均勻度:±2℃(常壓，空載)  

溫度波動(dòng)度:±0.5℃(常壓，空載)  

壓力偏差:常壓～40Kp：±1.8Kpa;40Kp～4Kpa：±4.5%;4Kp～0.5KPa：±0.1Kpa  

溫度范圍:A:-20℃～150℃B:-40℃～150℃C:-60℃～150℃D:-70℃～150℃  

溫度偏差:±3℃(常壓，空載)  

升溫速率:1.0～3.0℃/min  

壓力范圍:常壓～0.5kPa  

高低溫老化試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)：  

GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法  

GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

GB10592-2006技術(shù)條件  

GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)  

GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備  

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法  

GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備  

GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

艾思荔高低溫老化試驗(yàn)箱又名電路板高低溫老化箱，適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。高低溫老化箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

【標(biāo)注價(jià)格并不是chéng交價(jià)格，歡迎詢價(jià)】