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高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌艾思荔/Asli

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地香港特別行政區(qū)

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更新時間:2021-03-29 13:20:37瀏覽次數(shù):3829次

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產(chǎn)地 進(jìn)口 加工定制
適用領(lǐng)域 科研
高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測試工具.

高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕135#3846#9076熊S)箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。外箱采用SUS304#霧面線條處理不銹鋼板,內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS#304鏡面鋼板。外形設(shè)計美觀,各零部件安裝位置合理,靜電噴涂顏色能滿足客戶實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。

高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕規(guī)格:

內(nèi)尺寸:50×60×55㎝(W*D*H)

內(nèi)容積:165L

外尺寸:115×158×184㎝(W*D*H)  

溫度范圍:-70℃~+150℃(氣冷式)  

濕度范圍:10%~98%RH  

降溫速率:20℃~-70℃/85min(空載下)  

升溫速率:20℃~+150℃/45min(空載下)  

發(fā)熱負(fù)載:250W.(40℃,90%RH)  

溫度穩(wěn)定度:±0.2℃  

濕度穩(wěn)定度:±2%   

<strong>高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕</strong>

高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕滿足標(biāo)準(zhǔn):  

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;  

2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;  

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;   

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);  

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);  

9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。  

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式  

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式  

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化  

10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則  

11、GB/T2423.22-2002溫度變化  

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,  

13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))  

高低溫試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍:  

    高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕,用于電子電器零組件、自動化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測試工具.

<strong>高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕</strong>

    為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費(fèi)用,但是須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

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