絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)品的絕緣性能是評(píng)價(jià)其絕緣好壞的重要標(biāo)志之一，它通過絕緣電阻反映出來。絕緣電阻數(shù)字化測(cè)量技術(shù)也得到了發(fā)展，其中壓比計(jì)電路就是其中一個(gè)較好測(cè)量電路，壓比計(jì)電路是由電壓橋路和測(cè)量橋路組成。這兩個(gè)橋路輸出的信號(hào)分別通過A/D轉(zhuǎn)換再通過單片機(jī)處理直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字值顯示。
在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系呢？
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過程的開始階段，絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過的電流，在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
如額定電壓為5000V的測(cè)試儀，若其短路輸出電流為80μA，其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ；
如試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ·0.15μF≈9(秒)即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ，若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測(cè)試阻值大；容量大，測(cè)試阻值小。
所以，為保障準(zhǔn)確的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。
