XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀

  諧振腔法是一種重要的材料測(cè)量方法，具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷發(fā)展，諧振腔法將會(huì)在材料科學(xué)、電子工程、通信技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀是為中低損耗材料、均質(zhì)材料、小樣品測(cè)試等需求而開發(fā)的一款高精度高性價(jià)比的材料測(cè)試平臺(tái)。融合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和試夾具于一體，可進(jìn)行30MHz到110GHz頻率范圍內(nèi)的微波復(fù)介電常數(shù)測(cè)試。該系列產(chǎn)品精度高、接口豐富，在科研實(shí)驗(yàn)中能發(fā)揮十分重要的作用。

主要特點(diǎn)：

1、    測(cè)試精度高，速度快

2、    頻率范圍: 0.1~110.0GHz

3、    系統(tǒng)配置簡(jiǎn)單，易操作，測(cè)量軟件簡(jiǎn)單易用，自動(dòng)化程度高

主要技術(shù)參數(shù)：

1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz

2、測(cè)試溫度:-50~1750℃

3、電磁參數(shù)測(cè)試范圍: er'= 1.0~100，tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0，tanou =1.0×103~1.0   

一、諧振腔微擾法測(cè)試設(shè)備

頻率范圍:0.1~40.0GHz測(cè)試溫度:室溫～1750℃復(fù)介電常數(shù)測(cè)試范圍:

cr'= 1.0 ~30.0

tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10

tanou = 0.001 ~1.0常溫測(cè)試誤差:

|Asr'/er'\≤1.5%當(dāng)sr'=2.0 ~30.0

Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02當(dāng)r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4

Aur'/ur'\≤5.0%

Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸:

圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑:1.0~6.Omm，高度不低于30mm;

(實(shí)際尺寸視具體情況而定)

2、高Q腔法測(cè)試設(shè)備

頻率范圍:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz測(cè)試溫度:室溫~1600℃

復(fù)介電常數(shù)測(cè)試范圍:

cr'=l~10

tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測(cè)試誤差:

|Acr'/cr'\≤2.0%當(dāng)sr'=2~10

Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02當(dāng)sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4

樣品尺寸:

2.0~7.0GHz

圓片材料直徑:150.0mm，厚度:3.0 ~10.Omm

7.0~18.0 GHz

圓片材料直徑:50.0mm，厚度:1.5~3.0mm