EB-Ⅲ型電子束實(shí)驗(yàn)儀

EB-Ⅲ型電子束實(shí)驗(yàn)儀

用途和目的：

* 研究電子在電場(chǎng)和磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)變化規(guī)律；

* 了解示波管的構(gòu)造和各電*的作用；

* 掌握電子束在橫向電場(chǎng)作用下電偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律；

* 掌握電子束在縱向不均勻電場(chǎng)作用下的電聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律；

* 掌握電子束在橫向磁場(chǎng)作用下的磁偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律；

* 掌握電子束在縱向磁場(chǎng)作用下的磁聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律，地測(cè)定電子荷質(zhì)比。

參數(shù)及特點(diǎn)：

* 示波管（8SJ31J）

* 聚焦電壓：280～380V

* 加速電壓：-850～-1300V

* 偏轉(zhuǎn)電壓：-80～+80V

* Y軸電偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.4mm/V

* Y軸磁偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.3mm/mA

* 磁聚焦恒流源Z大輸出電流：2.5 A（Ⅱ型自備）

* 電子荷質(zhì)比測(cè)量誤差：≤5%