X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用...
查看詳情X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用...
查看詳情摘要 用于研究,工業(yè)應(yīng)用和質(zhì)量控制的Micro-CT掃描儀1、這種高度自動化的微型CT系統(tǒng)允許按預(yù)選的動作順序進(jìn)行按鈕操作,包括掃描,重建和體繪制
在線詢價摘要 Autoflflexspeed系列質(zhì)譜產(chǎn)品擁有眾多的技術(shù)和性能特點(diǎn),包括:1、2000HZ的smartbeamTM激光器和電子組件,為樣品的詳盡分析和高通量分析提供了極快的分析速度
在線詢價摘要 DimensionFastScan?原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計(jì),在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性,不帶來繁瑣操作的前提下,即可實(shí)現(xiàn)快速掃描
在線詢價摘要 DimensionIcon原子力顯微鏡(AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn),在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領(lǐng)域的納米研究中將會得到廣泛應(yīng)用
在線詢價摘要 Lab-X3500利用X射線熒光分析可提高您的生產(chǎn)率,既節(jié)省時間又降低成本Lab-X3500的設(shè)計(jì)滿足各種場合對質(zhì)量控制的要求,例如在實(shí)驗(yàn)室、工作現(xiàn)場或任何需要分析的地方
在線詢價摘要 品牌天瑞電源交流220V可售賣地全國工作溫度15-30度重量180KGX熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側(cè)技能的一個主要使用范疇
在線詢價摘要 Compact------即刻獲得專業(yè)質(zhì)譜數(shù)據(jù)作為超高分辨飛行時間(UHR-TOF)技術(shù)的者,布魯克樹立了用LC-MS/MS精確質(zhì)量所能達(dá)到的新標(biāo)準(zhǔn)和期望
在線詢價摘要 可測元素鈉-鈾測試范圍固體液體粉末重量180KG工作溫度15-30度可售賣地全國X熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng):1、為了保持儀器的良好外觀,需經(jīng)常對儀器表面做清潔工作,用軟布擦拭灰塵
在線詢價摘要 針對SW-450在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高anquan防護(hù)等級的需求,特別設(shè)計(jì)該款SW-450固廢jiance儀
在線詢價摘要 儀器簡介:XAU-4CS是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度高的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì),是一款一機(jī)多用型光譜儀
在線詢價摘要 quanmian升級XU-100X熒光光譜測厚儀高精尖jiance技術(shù),搞定企業(yè)品質(zhì)管控!XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量
在線詢價摘要 儀器簡介:此系列產(chǎn)品可測量金屬準(zhǔn)直無法測量的微區(qū),多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小zhi5μm,因此可以測量微電子設(shè)備、gaoxiao電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域
在線詢價摘要 X熒光光譜儀(簡稱XRF)是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢,在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)廣泛應(yīng)用
在線詢價摘要COMPASS 4294 PLUS-便攜式油品硫氯分析XRF熒光光譜儀提供了的在現(xiàn)場測量石油產(chǎn)品中的硫和氯分析方法,濃度范圍從2 ppm到10%不等。為了提高檢測靈敏度,4294 plus使用了具有Peltier冷卻功能的高分辨率大面積快速硅漂移檢測器(FSDD)檢測...
在線詢價摘要 馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計(jì),該儀器可為多種晶片(厚達(dá) 300 mm)測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。
在線詢價摘要 帕納科Epsilon1臺式XRF能譜儀一體機(jī):是解決此類問題的理想方案。在抵達(dá)您手頭之前,Epsilon 1已經(jīng)預(yù)先校準(zhǔn)完畢,可以直接用于分析應(yīng)用,分析結(jié)果確保遵循ASTM D6481標(biāo)準(zhǔn)(該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了X射線熒光能譜儀分析潤滑油中磷、硫、鈣和鋅的方法和準(zhǔn)確度)。
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