光電流成像系統(tǒng)Photocurrent Mapping System又叫掃描光電流顯微鏡Scanning PhotoCurrent Microscopy，是一種用于檢測材料光電流強度分布的設(shè)備。
XperRam Photocurrent光電流成像系統(tǒng)標(biāo)配40X物鏡的情況下可實現(xiàn)大范圍（200μm*200μm），高精度（步進0.1μm）的光電流成像（Photocurrent Mapping）。
光電流成像系統(tǒng)Photocurrent Mapping System又叫掃描光電流顯微鏡Scanning PhotoCurrent Microscopy，是一種用于檢測材料光電流強度分布的設(shè)備。
XperRam Photocurrent光電流成像系統(tǒng)標(biāo)配40X物鏡的情況下可實現(xiàn)大范圍（200μm*200μm），高精度（步進0.1μm）的光電流成像（Photocurrent Mapping）。其工作原理如下圖所示。激光通過掃描振鏡，經(jīng)顯微鏡物鏡聚焦到樣品上，樣品上因光電效應(yīng)產(chǎn)生電流，電流信號讀出后傳至電腦。掃描時，振鏡控制激光聚焦光斑在樣品XY方向上掃描移動，軟件記錄每一個激光聚焦光斑的位置和其對應(yīng)激發(fā)的電流值，即可實現(xiàn)光電流成像(Photocurrent Mapping)
該設(shè)備還可以搭配光譜儀和CCD，測量拉曼光譜成像和熒光光譜成像。
系統(tǒng)特點
>>多用測量模式
一臺設(shè)備即可實現(xiàn)拉曼成像，熒光成像，光電流成像等多種功能，
>>快速大面積掃描成像
通過振鏡調(diào)節(jié)激光聚焦光斑的位置完成掃描成像，掃描過程中樣品臺臺保持不動，掃描速度快，掃描精度高，掃描范圍大
>>多種樣品臺可選，可定制
樣品臺可根據(jù)客戶需求選配探針臺，低溫恒溫器，高溫?zé)崤_等，還可以根據(jù)客戶現(xiàn)有探針臺定制產(chǎn)品
系統(tǒng)參數(shù)
激光器
可選配1-3個激光器，輸出功率可調(diào) | |
波長 | 405nm-1550nm，其他波長可定制 |
可選配1個光纖連接端口接入外部光源 | |
可選配超連續(xù)譜白光激光器 | |
掃描模組
| 顯微鏡
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應(yīng)用領(lǐng)域
>>材料分析 石墨烯，二維材料，結(jié)晶度分析等 |
>>電氣工程與電子工程 晶圓分析，太陽能，半導(dǎo)體等
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