CONDUCTIVE DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
金剛石探針,高長徑比探針,硅懸臂非接觸式- /敲擊模式,鍍層: 懸臂背面鍍鋁
尖形狀: 高長徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍:高長徑比探針
高長徑比探針,鍍層: 無; 針尖形狀: 高長徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍:高長徑比探針
導(dǎo)電金剛石探針,高長徑比探針,硅懸臂非接觸式- /敲擊模式,鍍層: 懸臂背面鍍鋁