掃描電子顯微鏡具有處理所有類型材料能力的分析顯微鏡為您提供的成像質(zhì)量。配備X射線能譜儀接口,并有*的X射線幾何條件對所有樣品提供了較精確的分析。對于非導體采用電子束襯管技術也提高了圖像質(zhì)量和分析精度。
產(chǎn)品應用:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質(zhì)礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。