JSM-7610FPlus掃描電子顯微鏡統(tǒng)經過改進,實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升,以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。
半浸沒式物鏡在樣品周圍形成強磁場,因而可以獲得超高分辨率。
er Optics 是*的電子光學系統(tǒng),既實現(xiàn)了高倍率觀察又能進行多種分析。
浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,可以獲得10 倍于傳統(tǒng)肖特基場發(fā)射電子槍(FEG)的探針電流,光闌角控制鏡(ALC)在探針電流增大時也能保持小束斑,兩者組合起來能提供200 nA 以上的探針電流。強大的High Power Optics 系統(tǒng),從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的小物鏡光闌而不需要改換。
JSM-7610FPlus掃描電子顯微鏡浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍銃
浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍通過和低像差聚光鏡組合,可以有效地收集從電子槍內發(fā)射的電子。
光闌角控制鏡(ACL)
光闌角控制鏡(ACL)配置在物鏡的上方,在整個探針電流范圍內自動優(yōu)化物鏡光闌的角度。因此,即使照射樣品的探針電流很大,與傳統(tǒng)方式相比,也能獲得很小的電子束斑。
即使探針電流很大,束斑直徑也很小
長時間分析時穩(wěn)定度也很高