產(chǎn)品概述：1050度高溫臺(tái)

本高溫加熱臺(tái)有一個(gè)可移動(dòng)的蓋子，即阻止過(guò)量的熱輻射，又方便掃描電鏡的原位觀測(cè)。利用該加熱臺(tái)，可進(jìn)行大量的冶金學(xué)和材料科學(xué)研究，比如動(dòng)態(tài)的相變觀測(cè)、微結(jié)構(gòu)（組織）的變化等，從而為材料研究或失效分析等提供大量有用的信息。 利用特殊的設(shè)備，還可進(jìn)行動(dòng)態(tài)的氣相反應(yīng)研究。結(jié)合EBSD，還可觀測(cè)再結(jié)晶效應(yīng)等。

1050度高溫臺(tái)該樣品臺(tái)主要用于掃描電鏡的加熱實(shí)驗(yàn)（室溫至1050℃）。 

利用該樣品臺(tái)可進(jìn)行腐蝕實(shí)驗(yàn)，和氣體或蒸汽中的加熱實(shí)驗(yàn) (不可通入氧氣和水)。 在加熱過(guò)程中，通過(guò)法蘭盤(pán)上的一個(gè)針閥將微細(xì)的氣流或蒸汽通入加熱腔中。此時(shí)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的蓋子將加熱腔封閉以與電鏡真空相隔絕，防止意外損害的發(fā)生。整個(gè)高溫加熱過(guò)程中，蓋子都將處于封閉狀態(tài)。在氣氛條件下的高溫實(shí)驗(yàn)結(jié)束后，蓋子被打開(kāi)，以觀察實(shí)驗(yàn)后樣品表面的變化。

當(dāng)然，如果不做氣氛實(shí)驗(yàn)且探頭能承受高溫，蓋子可一直被打開(kāi)以實(shí)時(shí)觀測(cè)加熱過(guò)程中樣品表面的變化。

該加熱臺(tái)的核心部分是一個(gè)陶瓷電阻加熱器。加熱器中間的樣品夾持器形狀可選，有杯狀、平板狀等多種可供選擇。直徑大至 25mm 的碟狀樣品可通過(guò)一個(gè)小鎢絲彈簧夾持。

加熱臺(tái)*的加熱爐有多層輻射反射層將熱量集中于爐子*，且整個(gè)加熱部分立于一些*上，以防止熱量從加熱臺(tái)向電鏡樣品臺(tái)傳導(dǎo)。

本加熱臺(tái)采取了多種防護(hù)措施防止可能產(chǎn)生的電場(chǎng)對(duì)電鏡圖像產(chǎn)生干擾。

注意:

在進(jìn)行氣氛加熱試驗(yàn)前，請(qǐng)確認(rèn)加熱臺(tái)的所有部件不會(huì)與氣氛發(fā)生任何反應(yīng)。本加熱臺(tái)所采用的材料包括：鎢、鉬和三氧化二鋁。

溫度控制器

用戶(hù)可選 PID 控制器或手動(dòng)控制器。

溫度范圍

室溫至  300℃, 500℃, 800℃或 1050℃。

SEM樣品臺(tái)適配

該加熱模塊可像一個(gè)大號(hào)樣品一樣裝載在電鏡樣品臺(tái)上使用，適用于大部分型號(hào)的掃描電鏡。

氣氛加熱

300℃和500℃的加熱臺(tái)可在真空環(huán)境中使用，也可在大氣環(huán)境中使用。更高溫度的加熱臺(tái)則只能在高真空或低真空環(huán)境中使用。本加熱臺(tái)則有一個(gè)*功能：其可以在封閉的加熱腔中通入特定氣氛以實(shí)現(xiàn)氣氛加熱實(shí)驗(yàn)（亦可通入腐蝕性氣體進(jìn)行腐蝕性實(shí)驗(yàn)）。 

尺寸: 

大約. 65 mm x 55 mm x 38 mm.