omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了*以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
1.高靈敏性,粒度測(cè)量范圍:0.3nm~10μm;
2.突破性的三檢測(cè)角度設(shè)計(jì),測(cè)量角度:15°、90°和173°;
3.硬件PALS技術(shù),靈敏度高1000倍,適用于高鹽濃度、有機(jī)溶劑、油相體系;
4.濃度范圍:0.1ppm至40%w/v;
5.可作為在線(xiàn)檢測(cè)器與GPC/SEC連接,并通過(guò)SLS、DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測(cè)聚集過(guò)程;
6.綜合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測(cè)量軟件;
7.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能,可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢(shì)分析.