90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS）, 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。
工作原理90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關器（digital correlator）
技術處理脈沖信號，將光強的波動轉(zhuǎn)化為相關函數(shù)。自相關函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布：
ZetaPlus電位測量采用電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
技術優(yōu)勢-納米粒度測量部分：
1. 強大的TurboCorr數(shù)字相關器：*進的相關器，擁有522個物理通道，相當于超過1010個線性通道，25nS-1310S動態(tài)采樣時間及延遲時間分配，支持互相關測量，支持多路信號輸入（詳見相關資料）。
2. 采用35mW大功率固體激光器，在保證穩(wěn)定性的同時有效地提高了信噪比，更加有利于對極小粒度及極稀體系的測量(如圖1)。由于光束的良好聚焦，不會對體被測體系造成熱運動影響，同時保證了更小的散射體積。
3. 高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實際實驗要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測量；PMT檢測器以其良好的線性范圍適合測量分布較寬的樣品體系。
4. 樣品池溫度控制范圍: -5 to 110°C± 0.1°C
技術優(yōu)勢-Zeta電位測量部分：
1. *樣品槽設計：
傳統(tǒng)樣品槽電極設計，使樣品槽內(nèi)不可避免產(chǎn)生反電泳運動的電滲現(xiàn)象，所以測量必須在電滲運動為零的穩(wěn)定層上進行。尋找穩(wěn)定層增加了儀器設計的復雜性，用戶校準也很麻煩，精度也難以保證。布魯克海文公司開發(fā)的新型樣品槽為開放式，從根本上杜絕了電滲現(xiàn)象。測試精度有了充分保證，用戶也省去了校準、標定、及費心保養(yǎng)等麻煩，亦無交叉污染之憂。
2. 電極設計：
鑒于使用傳統(tǒng)毛細管電泳方法測量Zeta電位存在的種種缺陷，布魯克海文公司開發(fā)設計了一代的插入式電極。該電極使用純金或純鈀做為電極材料，因此電極壽命極長；同時，由于采用了開放式的設計，電極的清洗變得簡單易行；更重要的是，對于被測體系驅(qū)動能力關鍵的是所加的電場強度（而不是電壓），由于這種電極的極板間距離相對更小，這樣就使得施加低電壓得到高場強成為可能，從而減小了測量過程中使用高電壓所產(chǎn)生的電流對膠體樣品的污染，
3. 內(nèi)置兩重精密的溫度控制單元，樣品溫度控制范圍: 5° C to 90° C（選項：-2°C to 102°C）。
4. 高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實際實驗要求任選。
