90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍！90Plus PALS 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

PALS技術（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布魯克海文儀器公司開發(fā)的一項全新的Zeta電位測量技術，與傳統(tǒng)基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍。許多從事新材料、生命科學、環(huán)境工程等新興學科的研究人員*以來苦于無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進行分析，這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量，ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準確可信的測量技術。90Plus PALS 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

簡單的計算即可說明硬件PALS技術的*性：

Zeta電位測量特點：

1.       真正的PALS技術：

隨著在20世紀九十年代對ＰＡＬＳ技術研究的成熟，出現(xiàn)了兩種商品化的儀器。一種是使用PALS算法的Zeta電位儀，另一種就是使用真正PALS技術進行測量的ZetaPALS。

通常情況下，僅使用PALS算法的Zeta電位儀需要對樣品進行兩次單獨的測量從而補償由于使用毛細管而帶來的電滲運動的影響。這種方法僅僅是對傳統(tǒng)頻移技術數(shù)據(jù)的修正，而并不能真正有效的提高儀器的分辨率，因此也無法解決困擾Zeta電位測量的低電泳遷移率體系的測量問題。但是，ZetaPALS是從測量方法入手，從信號提取方法、信號整形技術以及分析處理等各個階段都是使用的PALS技術，因此，這與其它任何僅簡單使用PALS算法的儀器不同，ZetaPALS是真正意義上使用PALS技術的儀器。

2.       *樣品槽設計：

布魯克海文公司開發(fā)的新型樣品槽為開放式，從根本上杜絕了電滲現(xiàn)象，從而充分保證了測試精度，使用戶省去了校準、標定、及費心保養(yǎng)等麻煩，亦無交叉污染之憂。

3.   電極設計：

鑒于使用傳統(tǒng)電泳方法測量Zeta電位存在的種種缺陷，布魯克海文公司開發(fā)設計了一代的插入式電極。該電極使用純金或純鈀作為電極材料，因此電極壽命極長；同時，由于也采用了開放式的設計，電極的清洗變得簡單易行；更重要的是，對于被測體系驅(qū)動能力關鍵的是所加的電場強度（而不是電壓），由于這種電極的極板間距離相對更小，這樣就使得施加低電壓得到高場強成為可能，從而減小了測量過程中使用高電壓所產(chǎn)生的電流對膠體樣品的污染，尤其是對于那些離子濃度較高的體系來說尤為重要。

4.   內(nèi)置兩重精密的溫度控制單元，樣品溫度控制范圍: 5°C to 90°C（選項：-2°C to 102°C）。

5.   高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實際實驗要求任選，PMT檢測器靈敏度較低，但是線性范圍更寬；APD檢測器靈敏度較高，但是線性范圍較窄。因此，對于不同應用的用戶來說，實際上應該有不同的選擇。

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關器（digital correlator）

技術處理脈沖信號，將光強的波動轉(zhuǎn)化為相關函數(shù)。自相關函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布：

納米粒度測量特點：

1.   強大的TurboCorr數(shù)字相關器：*的相關器，擁有522個物理通道，相當于超過10¹⁰個線性通道，25nS-1310S動態(tài)采樣時間及延遲時間分配，支持互相關測量，支持多路信號輸入（詳見相關資料）。

2.   采用35mW大功率固體激光器，在保證穩(wěn)定性的同時有效地提高了信噪比，更加有利于對極小粒度及極稀體系的測量(如圖1)。由于光束的良好聚焦，不會對體被測體系造成熱運動影響，同時保證了更小的散射體積。

3.   高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實際實驗要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測量；PMT檢測器以其良好的線性范圍適合測量分布較寬的樣品體系。

4.   樣品池溫度控制范圍: -5 to 110℃±0.1℃。