ruker Multimode 8 DI 第八代多功能掃描探針顯微鏡
-高分辨掃描探針顯微鏡的*
-搭配快速自動掃描成像技術(shù)
-功能更完善，表現(xiàn)更
MultiMode平臺是世界上應用泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經(jīng)在成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其的高分辨率和高性能，*的多功能性，以及已經(jīng)得到充分證實的效率和可靠性。現(xiàn)在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其*的ScanAsyst模式，采用其*的自動圖像優(yōu)化技術(shù)，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究領(lǐng)域的研究中迅速地獲得符合要求的研究成果。?SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有*的數(shù)字架構(gòu)：具有高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和*的數(shù)據(jù)處理能力。布魯?shù)募夹g(shù)已經(jīng)開創(chuàng)工業(yè)上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35°C到250 °C范圍內(nèi)對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環(huán)境中進行掃描。當在氣體環(huán)境下對樣品進行掃描時，采用環(huán)境控制艙可以在大氣壓標準下控制環(huán)境氣體的成分。
一、技術(shù)參數(shù)：
1.顯微鏡：多種可選Multimode SPM掃描頭?
AS-0.5 scanner – 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z range;
AS-12 scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下針)
AS-12VLR scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (垂直下針)
AS-130VLR scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (垂直下針)
AS-12NM scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (非垂直下針)
AS-130NM scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (非垂直下針)
PicoForce scanner – 40μm x 40μm XY and 20μm Z range,針對 Z 方向閉環(huán)力譜應用
MMAFMXYZ – 100μm x 10μm XY and 15μm Z range XYZ三方向閉環(huán)，不*在液相中使用
3. 樣品大?。褐睆?/span>≤15mm, 厚度≤5mm
4. 針尖/懸臂支架：
● 空氣中輕敲模式/接觸模式(標準)
● 液體中輕敲模式/力調(diào)制(可選)
● 空氣中力調(diào)制(可選)；
● 電場模式(可選)
● 掃描熱(可選-需要大的光學頭或者外加的應用組件)
● STM轉(zhuǎn)換器(可選)
● 低電流STM轉(zhuǎn)換器(可選)；接觸模式液體池(可選)
● 電化學AFM或STM液體池(可選)
● 扭轉(zhuǎn)共振模式(可選)
5. 防震和隔音：
● 硅膠共振模式(可選)
● 防震三腳架(可選) ；
● 防震臺(可選)
● 集成的防震臺和隔音罩(可選)
二、主要特點：
1. 世界上的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優(yōu)異的可操作性
?4. 非凡的靈活性與功能性
5. 無限的應用擴展性 Multimode可以實現(xiàn)全面的SPM表面表征技術(shù)，包括：
● 輕敲模式(Tapping Mode AFM)
● 接觸模式(Contact Mode AFM)
● 自動成像模式(ScanAsyst)
● 相位成像模式(Phase Imaging)
● 橫向力術(shù)模式(laterial Force Microscopy, LFM)
● 磁場力顯微術(shù)(Magnetic Force Microscopy, MFM)
● 掃描隧道顯微術(shù)(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
● 力調(diào)制(Force Modulation)
● ?電場力顯微術(shù)(Electric Force Microscopy, EFM)
● 掃描電容掃描術(shù)(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
● 表面電勢顯微術(shù)(Surface Potential Microscopy)
● 力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
● 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
● 電化學顯微術(shù)(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
● 皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
● 隧道原子力顯微術(shù)(Tunneling AFM, TUNA)
● 導電原子力顯微術(shù)(Conductive AFM, CAFM)
● 掃描擴散電阻顯微術(shù)(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
● 扭轉(zhuǎn)共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
● 壓電響應模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
● 其他更多模式....
