掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢,表面功函由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)
主要特點(diǎn):
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積:5mm to 300mm(四種型號(hào),每種型號(hào)掃描面積不同)
● 掃描分辨率:317.5nm
● 自動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域:
● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機(jī)光伏材料
● 腐蝕
升級(jí)附件:
● 空氣光發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱