超高精度、高穩(wěn)定性納米壓痕測(cè)試儀
UNHT3 高精度超納米壓痕測(cè)試儀采用真實(shí)力傳感器和位移傳感器，可用于測(cè)量材料在納米尺度下的機(jī)械性能。UNHT3 采用*的主動(dòng)表面參比技術(shù)，消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于對(duì)所有類型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）進(jìn)行原子到納米尺度的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。
關(guān)鍵功能
確的納米壓痕測(cè)試儀
UNHT3 可測(cè)量他人估計(jì)的結(jié)果：兩個(gè)獨(dú)立的位移和載荷傳感器可真正可靠地控制力和壓入深度。另外，UNHT3 采用*的主動(dòng)表面參比設(shè)計(jì)：參考參比針尖記錄樣品的表面位移位置，同時(shí)針尖壓痕完成測(cè)量，以此扣除熱漂移和框架剛度影響。這種*的設(shè)計(jì)支持大范圍的壓入位移（從幾 nm 到 100 μm）和壓入載荷（從幾 μN(yùn) 到 100 mN）。
市場(chǎng)上穩(wěn)定性的納米壓痕測(cè)試儀
UNHT3 采用*的主動(dòng)表面參比技術(shù)和無熱膨脹的 Zerodur 材質(zhì)，是市面上一款無需任何位移校正且熱漂移低至可忽略不計(jì) (10 fm/sec) 的納米壓痕測(cè)試儀。憑借*的穩(wěn)定性，UNHT3 是可用來長(zhǎng)期測(cè)量蠕變等測(cè)試的納米壓痕測(cè)試儀。
高效率和測(cè)量速度（每小時(shí)測(cè)量 >600 次）
借助該儀器*的熱穩(wěn)定性，樣品在安裝后即刻便能進(jìn)行測(cè)量，不必等待數(shù)小時(shí)以便其達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)。因此，每天可單獨(dú)測(cè)量許多樣品。使用“快速點(diǎn)陣”模式，每小時(shí)可通過真實(shí)的壓痕曲線和 600 多個(gè)壓痕。另外，用戶配置、測(cè)量模式、多樣品測(cè)量和可定制報(bào)告也促使其成為市面上高的儀器。
通過“Sinus 動(dòng)態(tài)測(cè)量模式”進(jìn)行其他動(dòng)態(tài)機(jī)械分析 (DMA)
使用集成的“Sinus 動(dòng)態(tài)測(cè)量模式”，可以對(duì)機(jī)械特性進(jìn)行位移曲線 DMA 分析（HIT、EIT 對(duì)比位移），并可測(cè)量薄膜到塊狀材料等樣品的粘彈特性（E'、E''：儲(chǔ)能和損耗模量、tan δ）。Sinus 動(dòng)態(tài)測(cè)量模式還提供其他功能，例如壓痕儀快速校正以及應(yīng)力/應(yīng)變分析。
技術(shù)規(guī)格
| 載荷 [mN] | 50 / 100(1) |
| 載荷分辨率 [nN] | 3 |
| 載荷背底噪聲 [rms] [μN(yùn)] | ≤0.05 |
| 加載速度 [mN/min] | 最多 1000 種 |
| 深度量程 [μm] | 50 / 100(1) |
| 深度分辨率 [nm] | 0.003 |
| 深度背底噪聲 [rms] [nm] | ≤0.03 |
| 數(shù)據(jù)采集頻率 [kHz] | 192 |
| 選件 | |
| 加熱臺(tái)的溫度可高達(dá) 200 °C | ? |
| 冷卻至 -120 °C (2) | ? |
| 液體測(cè)試 | ? |
(1) 可選
(2) 帶環(huán)境腔體
