蔡司 EVO 系列
模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
＞ 顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的多功能解決方案
＞ 不同的真空室大小和可滿足所有應用要求的載物臺選項-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
＞ 使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量
＞ 對不導電和無導電涂層的樣品的成像和分析性能出色
＞ 可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應用的需求
優(yōu)勢
▲便捷的可用性
SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進行交互式工作流程控制。它簡單易學， 大大減少了培訓所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動化工作流程以執(zhí)行可重復檢查任務的工業(yè)操作員。
▲優(yōu)異的圖像質(zhì)量
EVO 擅長于對未經(jīng)處理和沒有導電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對比度和信噪比。
▲EVO 能夠與其它設備相關聯(lián)
EVO可以作為半自動、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學和電子顯微鏡圖像合并起來進行材料表征或零件檢驗，或者將 EVO 與蔡司光學顯微鏡相關聯(lián)，進行關聯(lián)顆粒度分析。
適合更多用戶操作
對于經(jīng)驗豐富的以及新手用戶操作都很方便
在實際的實驗室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專家的專屬領域。但是對于非專家級用戶來說，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學生、受訓者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時考慮了這兩類用戶的需求，用戶界面選項既能滿足有經(jīng)驗的顯微鏡專家也能滿足非專業(yè)用戶的操作需要。
▲專家用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM
專家用戶可以獲取以及設定高級的成像參數(shù)和分析功能。
SmartSEM: 為有經(jīng)驗用戶使用的控制界面
▲新手用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM Touch
新手用戶可以使用預定義的工作流程和常用的一些參數(shù)-非常適合初學者。
SmartSEM Touch: 是一款在觸摸屏電腦上運行的簡化圖形用戶界面
智能導航與成像
大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出
▲蔡司導航相機
相機可以安裝在倉室前方， 以監(jiān)測樣品與背散射探測器以及物鏡底端之間的相對位置(倉室相機)；或安裝在真空室倉門上方 (導航相機)， 利用俯視圖查看樣品臺上樣品的擺放位置。此視圖可用于設置從光學顯微鏡圖像中識別出的預定義位置， 并在整個樣品測試過程中輕松導航。
▲自動化智能成像
EVO實現(xiàn)了對樣品批量自動、無人值守的圖像采集。蔡司自動化智能成像非常適合例行檢測。它使用戶能夠自定義邊界區(qū)域，自動生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域，并開始自動獲取圖像。自動化智能成像將大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。
將您的研究提升一個層次
使用六硼化鑭電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像
六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢體現(xiàn)在以下兩個方面:
＞ 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下， 有更多探針電流可供使用， 從而使圖像導航和優(yōu)化更容易
＞ 在相等的探針電流 (信噪比) 下， 光斑直徑要小得多， 從而提高了圖像分辨率
EVO 能夠與其它設備相關聯(lián)
工作流程自動化和關聯(lián)顯微鏡的好處
▲Shuttle & Find 將EVO、光學顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個關聯(lián)的、多模態(tài)工作流程
由于蔡司是各種類型顯微鏡和計量系統(tǒng)的優(yōu)秀供應商， 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合，使其功能能夠發(fā)揮得更好。
通過使用Shuttle & Find（蔡司關聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分），您可以在（數(shù)碼）光學顯微鏡和 EVO 之間建立一個高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學顯微鏡的光學對比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合， 獲得互補的數(shù)據(jù)， 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機理。
