PID形成原因
組件PID效應(yīng)是電池組件長(zhǎng)期在直流側(cè)系統(tǒng)的高電壓作用下,導(dǎo)致玻璃、封裝材料之間出現(xiàn)漏電流,大量電荷聚集在電池片表面,使得電池表面的鈍化效果惡化,電池組件的填充因子、開路電壓、短路電流減少,導(dǎo)致組件性能衰減,幾端情況下,PID效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致組件50%以上的功率損失,影響整個(gè)組串功率輸出
在高溫高濕環(huán)境下( 85°C 和 85%RH )給組件內(nèi)部帶電體與邊框之間施加等于組件最大系統(tǒng)額定電壓(±1000V或±1500V)的電壓偏差,當(dāng)內(nèi)部光伏電路相對(duì)于地面為負(fù)偏壓時(shí),框架和電池之間的電壓可導(dǎo)致玻璃中的鈉離子向電池表面漂移形成的漏電流,就會(huì)通過邊框或安裝支架流入大地,從而出現(xiàn)PID效應(yīng)
PID測(cè)試儀器組成
測(cè)試所需主要儀器為:
步入式環(huán)境測(cè)試箱;
絕緣耐壓測(cè)試儀;
接地連續(xù)性測(cè)試儀;
PID測(cè)試直流電壓源;
HALM太陽模擬器(AAA+級(jí));
EL測(cè)試儀等。
PID測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)
PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 (Draft)
根據(jù)IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀檢測(cè);
根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行蕞大功率測(cè)試
根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試;
如果組件有裸露的導(dǎo)電部位,則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試。
PID測(cè)試連線圖以及測(cè)試電源要求
光伏組件PID測(cè)試高壓程控電源需求
電源電壓:-1500V~0V/ 0~+1500V
電源時(shí)漂:≤0.3%/h
電源溫漂:≤0.5‰/℃
電源紋波:≤0.5%
電流范圍:1~1000 uA /-1000 uA~-1
試驗(yàn)時(shí)間:0~168h
普賽斯儀表光伏組件PID測(cè)試高壓程控電源優(yōu)勢(shì):
1、支持恒壓測(cè)流模式。
2、蕞大電壓高達(dá)3500V。
3、最小電流低至1nA。