X-tool 自動(dòng)化X射線光電子微探針能譜儀-儀表網(wǎng)

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海德竹芯源科技有限公司是一家專注于功率器件、光電器件、射頻器件、量子器件、MEMS傳感器領(lǐng)域的設(shè)備銷售、系統(tǒng)集成、設(shè)備國(guó)產(chǎn)化的公司。主要為高校、研究所、中試量產(chǎn)線及晶圓FAB廠提供半導(dǎo)體工藝設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備、封裝設(shè)備、測(cè)試設(shè)備。目前公司已成為國(guó)內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供半導(dǎo)體工藝、檢測(cè)、封裝、測(cè)試整體解決方案的企業(yè)。公司主要成員為復(fù)旦大學(xué)、上海微系統(tǒng)所等半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè)博士，擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)過(guò)硬的團(tuán)隊(duì)。能夠出色地完成售前售中、售后的服務(wù)。目前公司已與眾多國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:EVG、SAWNATEC、SENTECH、PICOSUN、SYSKEY、 Mavemn Panalyrical、PHL-CHINA、TEMPRESS,ROHDE&SCHWARZ、MPI等)，致力于根據(jù)用戶的科研方向和量產(chǎn)的器件類別提供相應(yīng)的全套設(shè)備選型和工藝整體解決方案。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

PHI X-tool 是 PHI XPS 系列產(chǎn)品中的新成員。（同時(shí)結(jié)合了PHI Quantera-II 和PHI VersaProbe-III的功能）PHI X-tool 設(shè)計(jì)的主要目的在于降低對(duì)操作人員個(gè)人經(jīng)驗(yàn)的要求，操作人員可觸屏操作，就可完成自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)檢測(cè)分析、自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告。PHI X-tool 消除了操作人員對(duì)表面分析經(jīng)驗(yàn)不足的問(wèn)題，使分析工作變得更簡(jiǎn)單，且更有效率。

X-tool 自動(dòng)化X射線光電子微探針能譜儀產(chǎn)品詳情

特點(diǎn)

配有多種樣品觀察系統(tǒng)

● X-tool 中包括了多種樣品觀察系統(tǒng)，可方便地做出樣品定位。使用者在分析時(shí)可采用合適的方式去進(jìn)行定位并精準(zhǔn)地找到需要分析的位置。

a) 進(jìn)樣室照片 – 可瀏覽整個(gè) 75×75 mm的樣品托上的所有樣品，方便快速定位。
b) 樣品實(shí)時(shí)光學(xué)影像 – 可實(shí)時(shí)的知道目前樣品在儀器內(nèi)部所準(zhǔn)備分析的位置。
c) SXI 掃描X射線成像 – 直接由X射線產(chǎn)生的二次電子像，精準(zhǔn)的微區(qū)定位分析。

可以非常簡(jiǎn)易地進(jìn)行自動(dòng)分析操作

● X-tool 在基于 PHI 公司的掃描聚焦型X射線的設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上，再加上 X-tool 上新開發(fā)的非常簡(jiǎn)易的觸碰屏操作軟件，不管是大于 1.4 mm 的大面積分析，還是小于 50 um 的小區(qū)域分析，都可通過(guò) 3 個(gè)簡(jiǎn)單的程序在自動(dòng)的分析隊(duì)形中一次性完成設(shè)定，大大增加了儀器的效率和效益。

高速的化學(xué)態(tài)成像分析

● 掃描聚焦 X 射線系統(tǒng)配合高靈敏度的探測(cè)器，PHI X-tool 可以在 Unscan 模式的采譜方式下快速地完成 XPS 的成像分析，成像的過(guò)程永遠(yuǎn)是先譜后圖而非帶有高度不確定性的先圖后譜。所得的數(shù)據(jù)可使用 PHI MultiPak 分析數(shù)據(jù)軟件去進(jìn)行 Linear Least Square (LLS) 處理，得到化學(xué)態(tài)成像的精準(zhǔn)結(jié)果。

C 1s 有機(jī)碳污染分布 / C 1s有機(jī)碳中和氧有鍵結(jié)的結(jié)構(gòu)分布 / O 1s 的分布 / 2種不同的C 1s化學(xué)態(tài)的分布迭圖

的硬件設(shè)計(jì)

● PHI X-tool 的微聚焦X射線可以把分析面積范圍設(shè)定在 20 um 到 1.4 mm 之間，而且系統(tǒng)配備了 PHI 的全自動(dòng)雙束中和系統(tǒng)，可以一次性地對(duì)不管是大面積或微區(qū)樣品，導(dǎo)體或絕緣體，有機(jī)或無(wú)機(jī)材料進(jìn)行程序化自動(dòng)分析，也可對(duì)樣品材料表面進(jìn)行面掃成像。PHI X-tool 上更配有離子源，可對(duì)樣品刻蝕以進(jìn)行 XPS 的深度分析。

應(yīng)用范圍

● Micro-Electronics 微電子，電子封裝

● Polymer 高分子材料

● Tribology 摩擦學(xué)

● Magnetic 磁性材料，硬盤，藍(lán)光光盤

● Display Industries 顯示工業(yè)

● Graphene 石墨烯

● Catalysis 催化劑

● Energy-related 能源產(chǎn)業(yè)

● Glass 玻璃

● Metal 金屬

● Ceramic 陶瓷

● Semi-conductors 半導(dǎo)體

● Bio-Medical 生醫(yī)科學(xué)

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
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JZKC-JMZK05A精密阻抗分析儀-電子/半導(dǎo)體檢測(cè)儀器	面議	北京市	北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司	2019-10-11	在線詢價(jià)
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SDJ-6N型振動(dòng)監(jiān)測(cè)保護(hù)儀（智能化）電子/半導(dǎo)體檢測(cè)儀器	面議	上海市	上海驊鷹自動(dòng)化儀表有限公司	2023-04-01	在線詢價(jià)
SDJ-3BS，SDJ-3LS型振動(dòng)監(jiān)測(cè)保護(hù)儀電子/半導(dǎo)體檢測(cè)儀器	面議	上海市	上海驊鷹自動(dòng)化儀表有限公司	2023-04-01	在線詢價(jià)

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