SFT9400系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀 |
SFT9000系列里的機型“SFT9455”,搭載 |
75W高速X射線管和雙重檢驗裝置(半導體檢驗裝 |
置十比例計數管)。適用“薄膜”、“金屬 |
膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測 |
定要求的高性能膜厚測量儀器。而且 |
“SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎上還可 |
以用作異物定性分析和材料成分分析。 |