ETS-406D靜電衰減測試儀適用范圍：
406D測試儀可用于實(shí)驗室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測和監(jiān)測。
ETS-406D靜電衰減測試儀 符合標(biāo)準(zhǔn)：美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，美國軍標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國GB 19082，中國軍標(biāo)GJB2625
ETS-406D靜電衰減測試儀 產(chǎn)品詳細(xì)：
406D靜電衰減測試儀采用直流充電法，是符合美國軍標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)、美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)、美國軍標(biāo)MIL-B-81705C、中國GB 19082，中國軍標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試;金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時間。
配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗證模塊提供一個標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣。
注：由于產(chǎn)品性能和功能的創(chuàng)新及改進(jìn)，產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格亦會相應(yīng)改變，恕不另行通知，請以實(shí)時參數(shù)為準(zhǔn)。本公司保留修改權(quán)與終解釋權(quán)。
我公司致力于為生產(chǎn)廠和貿(mào)易商提供專業(yè)的一站式實(shí)驗室技術(shù)服務(wù)，并同國內(nèi)外多家企業(yè)達(dá)成了*的合作協(xié)議，提供各類材料測試儀器及技術(shù)服務(wù)。通過引進(jìn)*的產(chǎn)品，整合技術(shù)和服務(wù)優(yōu)勢，吸收常見問題的解決經(jīng)驗，為國內(nèi)客戶提供優(yōu)化方案，帶動國內(nèi)科研及相關(guān)行業(yè)水平的提高。咨詢。
