本文件規(guī)定了軟X射線-極紫外波段(0.lnm~121nm)成像儀器地面檢測定標的一般要求、測試項目、測試原理、測試設備、測試程序以及數據處理的要求。
本文件適用于軟X射線-極紫外波段(0.1nm~121nm)光譜范圍內應用的空間成像儀器(主要應用于太陽、地球空間環(huán)境、深空天文目標的成像〉的檢測與定標工作。其他臨近波段(遠紫外、紫外)成像儀器及探測器的檢測定標參照使用。
軟X射線-極紫外成像儀器檢測項目包括視場范圍、像元角分辨率、光學角分辨率、光譜響應特性及有效探測面積。
視場范圍是描述成像系統(tǒng)所能成像空間范圍的指標參數，如果視場范圍滿足不了任務要求，將會導致目標成像不完整。像元角分辨率為焦平面探測器單個像元在物空間對應張角的大小。
軟X射線-極紫外波段成像儀器光學系統(tǒng)一般由反射式光學系統(tǒng)和薄膜濾光片組成,其中薄膜濾光片厚度一般在百納米級別，不影響系統(tǒng)的成像視場范圍等幾何參數。因此軟X射線-極紫外波段成像儀器的成像視場范圍主要由光機結構決定，與波長無關。為了減少視場范圍測試的復雜度和時間周期，軟X射線-極紫外波段成像儀器應在整機安裝前置濾光片前、在大氣環(huán)境下使用紫外光測量該項參數。
影響軟X射線-極紫外波段成像儀器的光譜響應特性的光學元件主要有濾光片、反射鏡及面陣探測器等光電元件。在軟X射線-極紫外波段成像儀器整機集成前，通過測量各光學元器件的效率-波長分布曲線并相乘，可以得到系統(tǒng)的光譜響應率-波長分布曲線。利用光譜響應率-波長分布曲線，可以確定工作波長范圍、帶外抑制能力、帶寬等儀器的光譜響應特性參數。
采用軟X射線-極紫外波段單色儀對上述軟X射線-極紫外波段光學元件性能參數進行測量。單色儀的波長覆蓋待測儀器的光譜范圍，光束經過單色儀分光后變成單色光，由高靈敏度探測器測量直射、反射或透射光信號，比對信號可以得到待測元件的反射率和透過率波長分布曲線。同樣使用單色儀出射的單色光對探測器量子效率進行測試:由標準傳遞探測器標定單色光的照度，然后探測器對該單色光成像，比對單色光的照度和探測器圖像灰度，可以得到探測器在該波長的量子效率。將測量成像儀器中所有光學元器件效率-波長曲線相乘，即可得到成像儀器整機的光譜響應曲線，此曲線可表征成像儀器的光譜響應特性。
軟X射線-極紫外波段成像目標一般較為微弱，對該波段成像儀器的探測靈敏度有著極高的要求，因此需要一個參數可以表征，有效面積是表征成像儀器探測靈敏度最直觀的參數。該參數為儀器光譜響應率與入瞳面積的乘積，而不同波長的光譜響應率在上述光譜中已經獲取，因此只需要測量成像儀器的入瞳面積。采用千分尺測量光闌幾何參數并計算面積，根據光闌與入瞳關系，由光闌幾何面積計算入瞳面積。
成像儀器探測器及成像電子學在拍攝圖像過程中會引入各種噪聲，包括偏置電流、讀出噪聲、暗電流噪聲和固定噪聲。暗噪聲定標的目的是標定成像探測器的各種噪聲圖像，包括偏置圖像、讀出噪聲圖像、暗電流圖像和固定噪聲圖像(fixed-pattern noise,FPN)。其中，偏置電流獨立于曝光時間，是疊加在成像電路輸出上的一個直流量;讀出噪聲是一個隨機噪聲，需要多次采集并統(tǒng)計其噪聲特性;暗電流是熱噪聲，大小隨溫度和曝光時間變化;固定噪聲圖像是成像探測器制作工藝導致的固定缺陷。定標時，在真空條件下將探測器溫度降低至工作溫度，探測器拍攝多幅0s曝光時間圖像并求平均，即可得到偏置圖像;將所有采集的0s曝光時間無光圖像減去偏置圖像得到多幅隨機的讀出噪聲圖像;對讀出噪聲圖像相加求平均，得到固定噪聲圖像(FPN圖像)﹔統(tǒng)計這些讀出噪聲圖像中每個像元位置圖像灰度的標準偏差，得到一幅表征探測器各像元讀出噪聲的讀出噪聲統(tǒng)計圖像。
通過拍攝不同曝光時間的暗噪聲圖像，減去偏置圖像和FPN圖像，得到不同曝光時間下的暗電流圖像，可以標定工作溫度下探測器每個像元的暗電流情況。
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