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日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF） CAF試驗(yàn)/CAF測(cè)試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)...

型號(hào)： HVUα-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:40:32 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測(cè)試裝置
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:23:16 對(duì)比

離子遷移測(cè)試裝置日本J-RAS絕緣電阻值檢測(cè)CAF測(cè)試方法日本J-RAS絕緣劣化試驗(yàn)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測(cè)試，J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測(cè)系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被...

型號(hào)： ECM-100/1... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:56:23 對(duì)比

遷移測(cè)試裝置CAF試驗(yàn)電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)J-RAS代理
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:53:08 對(duì)比

絕緣電阻值檢測(cè)CAF測(cè)試方法CAF設(shè)備離子遷移測(cè)試離子遷移檢測(cè)設(shè)備
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測(cè)試，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

型號(hào)： ECM-500 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:51:28 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試CAF測(cè)試信賴性測(cè)試失效分析
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置絕緣可靠性評(píng)估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

型號(hào)： HVUα-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:43:47 對(duì)比

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF），在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

型號(hào)： HVUα-3000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:34:14 對(duì)比

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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF）
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF）原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...

型號(hào)： HVUα-2000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:22:29 對(duì)比

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J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣...

型號(hào)： ECMr-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 11:47:30 對(duì)比

離子遷移測(cè)試系統(tǒng)CAF測(cè)試高壓絕緣測(cè)試儀可靠性測(cè)試大電壓測(cè)試
離子遷移測(cè)試裝置（CAF）
ECM-100離子遷移測(cè)試裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/12 11:38:09 對(duì)比

離子遷移測(cè)試CAF測(cè)試測(cè)試裝置什么是CAF信賴性測(cè)試
3000V離子遷移試驗(yàn)裝置
3000V離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）,經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并...

型號(hào)： HVUα_3000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/14 15:32:21 對(duì)比

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日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測(cè)試
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測(cè)試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/14 15:24:24 對(duì)比

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