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J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。離子遷移實驗裝置 絕緣...
J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
離子遷移實驗裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻...
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J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
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