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日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)為進(jìn)口的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫...
型號(hào): ES-107L
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:20:41
對(duì)比
HITACHI代理渦旋式壓縮機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)可靠性測試ES-107L
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高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器,操作簡單方便。箱門采用按鈕式,試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊,安全可靠。通過緩...
型號(hào): PC-422R9D
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:17:09
對(duì)比
雙腔體設(shè)計(jì)防止結(jié)露老化試驗(yàn)HAST試驗(yàn)HIRAYAMA代理
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導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
型號(hào): RTm-30DC
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:13:54
對(duì)比
低阻測試儀CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)導(dǎo)通電阻測試
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J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置,在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣...
型號(hào): ECMr-1000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:10:30
對(duì)比
離子遷移測試系統(tǒng)CAF測試高壓絕緣測試儀可靠性測試大電壓測試
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HITACHI 120L恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI 120L恒溫恒濕試驗(yàn)箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠...
型號(hào): EC-16MHHP
所在地:深圳市
參考價(jià):
¥1更新時(shí)間:2025/2/24 9:06:32
對(duì)比
EC-恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱日立恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境箱HITACHI
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HITACHI恒溫恒濕機(jī)
HITACHI恒溫恒濕機(jī)廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個(gè)領(lǐng)域。這些領(lǐng)域不斷深化的研究和產(chǎn)品開發(fā)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的性能要不越來越高。
型號(hào): EC-86MHHP
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:03:14
對(duì)比
恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)箱半導(dǎo)體環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境箱HITACHI
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HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。
型號(hào): EC-106MHH...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 9:01:04
對(duì)比
試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備穩(wěn)定恒溫恒濕試驗(yàn)箱高效恒溫恒濕試驗(yàn)箱老化箱
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HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬...
型號(hào): EC-36LHP
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:58:42
對(duì)比
恒溫恒濕試驗(yàn)箱生物技術(shù)工程試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備HITACHI環(huán)境箱老化箱
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HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱也稱恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī),用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。
型號(hào): EC-86LHHP
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:56:19
對(duì)比
恒溫恒濕試驗(yàn)箱電子元件試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備HITACHI環(huán)境箱老化箱
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HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱(大型)
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱(大型)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備被廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個(gè)領(lǐng)域。
型號(hào): EC-1506L
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:53:54
對(duì)比
恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境箱老化箱恒溫箱大型環(huán)境箱
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Analysis熱阻測試儀
Analysis熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的熱...
型號(hào): Phascl2
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:51:29
對(duì)比
氧殺菌除臭裝置除臭裝置熱阻測試裝置
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
型號(hào): HVUα-3000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:49:50
對(duì)比
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測試裝置
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF)
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...
型號(hào): HVUα-2000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:47:23
對(duì)比
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測試裝置
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HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱
HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱采用渦旋式壓縮機(jī),使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、醫(yī)藥領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)研究方面,...
型號(hào): ES-66EX-L
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:45:36
對(duì)比
液槽沖擊試驗(yàn)箱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱HITACHI環(huán)境箱TACHI液槽試驗(yàn)箱
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評(píng)估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...
型號(hào): HVUα-1000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:43:55
對(duì)比
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)絕緣可靠性評(píng)估
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
型號(hào): ECM-500
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:42:16
對(duì)比
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測試CAF測試信賴性測試失效分析
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短...
型號(hào): ECM-100
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:40:34
對(duì)比
絕緣電阻值檢測CAF測試方法CAF設(shè)備離子遷移測試離子遷移檢測設(shè)備
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HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器,醫(yī)療設(shè)備,HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱
型號(hào): PC-702R8
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:34:23
對(duì)比
HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱PC-702R8老化箱
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HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器,操作簡單方便。箱門采用按鈕式,試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊,安全可靠。通過緩...
型號(hào): PC-422R9
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:32:18
對(duì)比
HIRAYAMA試驗(yàn)箱飽和非飽和高加速壽命試驗(yàn)箱PC-422R9老化箱
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HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(Hast)
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(Hast)PC-422R8D高加速壽命試驗(yàn)箱(Hast),HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高,測試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作,獨(dú)...
型號(hào): PC-422R8D
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/2/24 8:30:35
對(duì)比
HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱壽命測試HAST箱