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顯微鏡/望遠鏡

望遠鏡是一種利用透鏡或反射鏡以及其他光學(xué)器件觀測遙遠物體的光學(xué)儀器。利用通過透鏡的光線折射或光線被凹鏡反射使之進入小孔并會聚成像,再經(jīng)過一個放大目鏡而被看到。又稱“千里鏡”。望遠鏡的個作用是放大遠處...

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適用行業(yè)
  • 摘要 4XB型雙目倒置金相顯微鏡用以鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu),對熱處理后的材料作一般金相組織的研究工作。顯微鏡成像清晰,視野寬廣,整體設(shè)計符合人機功能,適合長時間操作??蓮V泛地應(yīng)用在工廠或?qū)嶒炇疫M行鑄件質(zhì)量的鑒定。原材料的檢驗或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織研究分析等工作

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  • 摘要 該類顯微鏡自備光源,將反光鏡翻轉(zhuǎn)朝下,燈光點亮。(使用二節(jié)五號電池) 隨機附件包括:蝴蝶標本、孵卵盒、蝦卵、海鹽、膠水、2片標本片、4片載玻片、濾色板、備用燈泡、蓋玻片、空白標簽和滴管。出售學(xué)生用顯微鏡

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  • 摘要 價格便宜,*,家人為孩子只需幾十元即可讓孩子進入無限豐富的微觀世界,看看我們?nèi)庋蹮o法看清的微小世界的真實面目

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  • X射線熒光顯微鏡XROS MF30
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    摘要 X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線,是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法

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  • 摘要主要功能同時/多功能分析:?拉曼測量?發(fā)光測量?激光反射和透射測量?光譜和偏振測量?雙目視圖和攝像機圖像查看高空間分辨率和高靈敏度:?特別設(shè)計的光譜儀,能提供高分辨率的光譜和成像?針孔圖像被投射到多通道檢測器,沒有任何像差?高光學(xué)吞吐量,靈敏度增強,可以快速獲取2D/...

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  • 摘要主要功能RAMOSE/M系列拉曼光譜儀是在研究級光學(xué)顯微鏡的基礎(chǔ)上設(shè)計的,允許實現(xiàn)以下光學(xué)顯微鏡方法:?拉曼光譜測量?透射光?反射光(明場和暗場照明)?共聚焦顯微鏡?熒光測量?偏振對比度和相位對比成像?差分干涉對比度系統(tǒng)組成RAMOSE200系統(tǒng)的所有組件都是完整的集...

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  • 摘要 CEM3000系列毫米級超大景深臺式掃描電鏡是用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。其空間分辨率出色和易用性強,用戶能夠非??旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

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  • 摘要 VT6000大傾角超清納米共聚焦測量顯微鏡用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。它是基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。

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  • 瑞士EROWA顯微鏡ER-032464
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    摘要 瑞士EROWA顯微鏡ER-032464附帶尖頭檢查針確定復(fù)雜輪廓的尺寸,在帶或不帶 C 軸的機器上校準工件。

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  • 摘要清和光學(xué)制作所SWIR-5200內(nèi)部觀察顯微鏡SEIWA OPTICAL半導(dǎo)體內(nèi)部觀察顯微鏡SWIR-5200,雙目體視顯微鏡,變倍雙目體視顯微鏡SKZ系列,SKZ-2(2+60+13+20+40-C),SKZ-4(2+60+13+25-B+40-C),SKZ-1(2...

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  • 摘要 探針顯微鏡PS-888清和光學(xué)制作所SEIWA OPTICAL探針顯微鏡,高分辨率顯微鏡,高放大倍率顯微鏡PS-888,PS-888L,PS-888-TRI

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  • 摘要清和光學(xué)制作所MS-200-TWL相機顯微鏡SEIWA OPTICAL相機顯微鏡,MS-200-TWL,MS-200-TWL-RV,MS-200-TWL-TR,MS-20-TCD18,M.Plan APO1.5XHR,M.Plan APO2.5XHR,M.Plan A...

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  • 摘要VT6000共聚焦顯微鏡測量粗糙度的儀器采用3D捕獲的成像技術(shù),它通過數(shù)碼相機針孔的高強度激光來實現(xiàn)數(shù)字成像,具有很強的縱向深度的分辨能力。它基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分...

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  • 摘要VT6000系列國產(chǎn)共聚焦顯微鏡品牌是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學(xué)儀器,一般用于略粗糙度的工件表...

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  • VT6100高分辨率共聚焦顯微鏡
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    摘要 VT6000系列高分辨率共聚焦顯微鏡可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標準共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標準。

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  • VT6100共聚焦工具顯微鏡
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    ¥950000

    摘要 在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,共聚焦工具顯微鏡測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。

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  • SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡
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    ¥960000

    摘要SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡便,可自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量高要求的領(lǐng)域中,可以說只有白光干涉儀才能達到微型范圍內(nèi)重點部位的納米級粗糙度、輪廓...

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  • 摘要VT6000系列3d形貌共聚焦光學(xué)顯微鏡可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米...

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  • VT6100中圖共聚焦激光顯微鏡
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    ¥950000

    摘要CHOTEST中圖共聚焦激光顯微鏡VT6000系列以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,能測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。在相同物鏡放大的條件下,共焦顯...

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  • VT6100材料共聚焦顯微鏡
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    ¥950000

    摘要VT6000材料共聚焦顯微鏡具備一體化操作的測量與分析軟件,預(yù)先設(shè)置好配置參數(shù)再進行測量,軟件自動統(tǒng)計測量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出功能,即可快速實現(xiàn)批量測量功能;廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS...

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  • VT61003D超景深共聚焦顯微鏡
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    摘要中圖儀器VT6000系列3D超景深共聚焦顯微鏡設(shè)備具備表征微觀形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能,以及自動拼接功能,能夠快速實現(xiàn)大區(qū)域的拼接縫合測量??蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密...

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  • VT61003D激光共聚焦顯微鏡
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    摘要VT6000系列3D激光共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器...

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  • 摘要中圖儀器VT6000激光共聚焦顯微技術(shù)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量...

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  • VT6100激光共聚焦顯微鏡
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    摘要 VT6000激光共聚焦顯微鏡在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。

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  • 摘要中圖儀器VT6000系列共聚焦成像顯微鏡系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到...

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    4063
  • 摘要 研究所HRD-THERMAL熱成像顯微鏡TM3日本進口熱成像顯微鏡TM3;用于測量薄膜和微區(qū)域的熱流率

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  • VT61003d共聚焦顯微鏡
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    摘要以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡?,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。VT6000系列3d共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù),在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中能對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙...

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  • VT6100共聚焦測量顯微鏡
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    摘要 VT6000共聚焦測量顯微鏡以針孔共聚焦技術(shù)為原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測,對大坡度的產(chǎn)品有更好的成像效果,在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

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  • VT6100激光共聚焦掃描顯微鏡
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    摘要 中圖儀器VT6000系列激光共聚焦掃描顯微鏡配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像,對細節(jié)的展現(xiàn)纖毫畢現(xiàn)。儀器采用自研的電動鼻輪塔臺,并對軟件防撞設(shè)置與硬件傳感器防撞設(shè)置功能進行了優(yōu)化,確保共聚焦顯微鏡在使用高倍物鏡僅不到1mm的工作距離時也能應(yīng)對。

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  • 摘要中圖儀器VT6000激光共聚焦光學(xué)顯微鏡采用全電動化設(shè)計,并可無縫銜接位移軸與掃描軸的切換,圖像視窗和分析視窗同界面的設(shè)計風(fēng)格,實現(xiàn)了所見即所得的快速檢測效果。主要用于對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙...

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    4063
  • VT6100共聚焦顯微3D測量儀
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    摘要 在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,VT6000共聚焦顯微3D測量儀能對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

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    4063
  • 摘要 SIBATA柴田科學(xué)雙目實體顯微鏡EM-50EM-50,EM-962;用于石棉測量的偏光/色散顯微鏡:符合JIS A 1481-1(ISO 22262-1)的偏光/色散顯微鏡??捎糜诮ㄖ牧现惺薜亩ㄐ苑治?。

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  • VT6100共焦顯微鏡測量儀
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    摘要 VT6100共焦顯微鏡測量儀可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細節(jié),顯示出精細的細節(jié)圖像,它具有直觀測量的特點。

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  • 摘要 IKEIDARIKA池田理化膜厚儀OPTM-A1OPTM-A1,Opt-scope,Auto SE,VS1800,Smartproof 5

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    2615
  • 摘要 db-h顯微鏡下豬人工授精用恒溫電熱板db-h是根據(jù)各大中院校、科研單位、醫(yī)院、畜牧場的需求而生產(chǎn)的一種小型恒溫設(shè)備,經(jīng)久耐用耐腐蝕

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  • 摘要 MIRUC監(jiān)控觀察反射鏡頭MFS-1顯示器光學(xué)組件MFS-1 (B),KZS-1(B),MWS-1 (B),VS-45,VZS-45,MF-1,KZ-1,MW-1 ,V-45,VZ-45

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  • 摘要 MIRUC長焦顯微鏡 WL-1-FR數(shù)碼顯微鏡長焦顯微鏡 WL-1-FR,長焦顯微鏡 WL-1CM-FR,液晶數(shù)碼顯微鏡 MV2021/MV2022

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  • 摘要 MIRUC光學(xué)顯微鏡組件基本型MS-45目鏡MS-1 (A),MS-45,MS-90,MS-90 ,MFS-1 (A),MFS-45,MFS-90,OSM-MF ,M-1 (A),M-45,M-90,M-90,

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  • 摘要 KENIS研究用理化儀器生物顯微鏡照相機生物顯微鏡,光學(xué)檢測設(shè)備,顯微鏡照相機,放大鏡,標本制作工具,

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  • DM2000X倒置金相顯微鏡
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    摘要 主要適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察透明、半透明或不透明的物體,即要透射光反射光照明的的物體,如氣彈簧、集成塊、印刷電路板.液晶板、薄膜、纖維、紡織、鍍涂層以及其它非金屬材料

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  • 摘要 本儀器性能可靠,操作簡單,使用方便,且外形美觀,不 僅可作教學(xué)示范,生物解剖,作觀察分析,由于本顯微鏡具有 很高的分辨率及大視場范圍的清晰度,因此還可作電子工業(yè)和 精密機械工業(yè)零件裝配和檢驗,農(nóng)業(yè)上的種子檢查等。

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  • XRS-XDC-10C電視顯微鏡
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    摘要 ·變倍主物鏡放大率: 0.7×~4.5×·攝影目鏡放大率: 0.5×·工作距離: 95mm·手輪調(diào)焦范圍: 60mm·升降調(diào)節(jié)范圍: 110mm (XDC-10A:250mm)

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  • XRS-IME讀數(shù)顯微鏡
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    摘要 顯微鏡總放大率:30X目鏡:15X物鏡: 2X數(shù)顯分辯率:0.001mm (進口數(shù)顯手輪)測量范圍: 50x50mm(2“x2“)測量精度:0.01mm讀數(shù)裝置測微頭移動量:25mm(1“)

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  • XRS-XTL-3400C體視顯微鏡
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    摘要 二、技術(shù)參數(shù):物鏡變倍范圍 : 0.7--4.5X廣 角 目 鏡 : WF10X總放大倍數(shù) : 7—45X變 倍 比 : 6.5:1雙目瞳距調(diào)節(jié)范圍 : 55--75mm

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  • 摘要 類別技術(shù)參數(shù)放大倍數(shù)8×-50×目鏡WF10×, Φ22mm物鏡連續(xù)變倍:0.8×-5×變倍比6.5:1工作距離115mm光源下照明,12V10W鹵素?zé)?/p> 在線詢價

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT
  • X射線熒光顯微鏡XROS MF30

    X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線,是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法
  • 共聚焦拉曼顯微鏡RAMOS N5

    主要功能同時/多功能分析:?拉曼測量?發(fā)光測量?激光反射和透射測量?光譜和偏振測量?雙目視圖和攝像機圖像查看高空間分辨率和高靈敏度:?特別設(shè)計的光譜儀,能提供高分辨率的光譜和成像?針孔圖像被投射到多通道檢測器,沒有任何像差?高光學(xué)吞吐量,靈敏度增強,可以快速獲取2D/3D圖像
  • 共聚焦拉曼顯微鏡RAMOS E

    主要功能RAMOSE/M系列拉曼光譜儀是在研究級光學(xué)顯微鏡的基礎(chǔ)上設(shè)計的,允許實現(xiàn)以下光學(xué)顯微鏡方法:?拉曼光譜測量?透射光?反射光(明場和暗場照明)?共聚焦顯微鏡?熒光測量?偏振對比度和相位對比成像?差分干涉對比度系統(tǒng)組成RAMOSE200系統(tǒng)的所有組件都是完整的集成在光學(xué)顯微鏡中,兼顧了系統(tǒng)的緊湊性和移動性
  • 毫米級超大景深臺式掃描電

    CEM3000系列毫米級超大景深臺式掃描電鏡是用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。其空間分辨率出色和易用性強,用戶能夠非??旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。
  • 大傾角超清納米共聚焦測量

    VT6000大傾角超清納米共聚焦測量顯微鏡用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。它是基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。
  • 瑞士EROWA顯微鏡ER-032464

    瑞士EROWA顯微鏡ER-032464附帶尖頭檢查針
    確定復(fù)雜輪廓的尺寸,在帶或不帶 C 軸的機器上校準工件。
  • 清和光學(xué)制作所SWIR-5200

    清和光學(xué)制作所SWIR-5200內(nèi)部觀察顯微鏡SEIWA OPTICAL
    半導(dǎo)體內(nèi)部觀察顯微鏡SWIR-5200,雙目體視顯微鏡,變倍雙目體視顯微鏡SKZ系列,SKZ-2(2+60+13+20+40-C),SKZ-4(2+60+13+25-B+40-C),SKZ-1(2+60+13+20),SKZ-5(2+60+19-A),SKZ-6(2+60+13),測量顯微鏡SMJ-5
  • 探針顯微鏡PS-888清和光學(xué)

    探針顯微鏡PS-888清和光學(xué)制作所SEIWA OPTICAL
    探針顯微鏡,高分辨率顯微鏡,高放大倍率顯微鏡PS-888,PS-888L,PS-888-TRI
  • 清和光學(xué)制作所MS-200-TWL

    清和光學(xué)制作所MS-200-TWL相機顯微鏡SEIWA OPTICAL
    相機顯微鏡,MS-200-TWL,MS-200-TWL-RV,MS-200-TWL-TR,MS-20-TCD18,M.Plan APO1.5XHR,M.Plan APO2.5XHR,M.Plan APO5XHR,M.Plan APO10XHR,變焦鏡筒M.PlanAPO2.5XHR,M.PlanAPO5XSB
  • 共聚焦顯微鏡測量粗糙度的

    VT6000共聚焦顯微鏡測量粗糙度的儀器采用3D捕獲的成像技術(shù),它通過數(shù)碼相機針孔的高強度激光來實現(xiàn)數(shù)字成像,具有很強的縱向深度的分辨能力。它基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
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