摘要 用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的Gemini電子光學(xué)元件

摘要 顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志

摘要 顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志

摘要 顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志

摘要 顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志

摘要 JSM-IT800 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

摘要 產(chǎn)品名稱：電子顯微鏡產(chǎn)品型號(hào)：AM211產(chǎn)品產(chǎn)地：中國(guó)臺(tái)灣電子顯微鏡型號(hào)：AM211電子顯微鏡應(yīng)用范圍：可以被廣泛地使用,教室、工作單位、家里

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡 JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)透射電子顯微鏡 “NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析...

摘要 JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無(wú)論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

摘要 JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

摘要JEM-Z200FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器（Ω能量過(guò)濾器）、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的Ω能量過(guò)濾器與無(wú)孔位相板的組合，進(jìn)一步提高了生物...

摘要 JEM-Z300FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器(Ω能量過(guò)濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。

摘要 日本JEOL 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-3200FS JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過(guò)濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

摘要 日本電子JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的大優(yōu)點(diǎn)。

摘要 Hitachi日立電子顯微鏡SEMS-2600N，于2003年投入使用，用于晶圓檢測(cè)

摘要 產(chǎn)品介紹： 百倍超快多束自動(dòng)電子顯微鏡， 下一代電子顯微成像系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 Hirox浩視SH-1500桌上型掃描電子顯微鏡特點(diǎn)簡(jiǎn)介：超越光學(xué)極限的高倍率非導(dǎo)電性樣品無(wú)須涂層、快速簡(jiǎn)便影像鮮明的掃描電鏡■15,000X—30,000X■極富立體感的畫(huà)面■任何人都能使用的自動(dòng)調(diào)整功能■交替樣品后兩分鐘即可獲得滿意的影像■體積小巧

摘要 賽可普通型電子顯微鏡分辨率 15nm，大放大6萬(wàn)倍。支持二次電子和背散射電子雙重圖像，適用于研究開(kāi)發(fā)，品質(zhì)管理以及教育實(shí)習(xí)等的目的.

摘要 顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志

摘要 Quattro 掃描電子顯微鏡

摘要 Talos 透射電子顯微鏡

摘要 Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

摘要 Scios 雙束電子顯微鏡

摘要 Prisma EX 掃描電子顯微鏡

摘要 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 EVO 18

摘要 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 EVO MA 10/LS 10

摘要 掃描電子顯微鏡是通常被用來(lái)觀察樣品表面微觀形貌的常見(jiàn)儀器，經(jīng)長(zhǎng)期市場(chǎng)觀察與統(tǒng)計(jì)發(fā)現(xiàn)，利用掃描電子顯微鏡觀察與拍攝樣品時(shí)，放大倍率在八千至一萬(wàn)倍以下的平均使用率達(dá)到了80－90%，臺(tái)式掃描電子顯微鏡正是因應(yīng)這一市場(chǎng)實(shí)際需求而出現(xiàn)的。

摘要 從生物技術(shù)到納米技術(shù)、高分子和高新材料，H-Y系列透射電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用在多個(gè)領(lǐng)域，而且用途越來(lái)越廣。

摘要 H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開(kāi)發(fā)、測(cè)試、評(píng)估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域；適用于材料科學(xué)、化學(xué)化工、生命科學(xué)以及相關(guān)領(lǐng)域的研究工作，對(duì)各種材料、化工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進(jìn)行觀測(cè)分析試驗(yàn)。

摘要 簡(jiǎn)要描述：集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身；日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能超大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察。

摘要 該儀器具有較長(zhǎng)的工作距離，寬闊的視野，高清晰度的成像質(zhì)量；設(shè)計(jì)有0.35X，0.5X，1X系列攝影目鏡和0.5X，2X系列輔助物鏡，根據(jù)用戶不同場(chǎng)合的使用要求（需另配）；專門(mén)設(shè)計(jì)配套的LED照明裝置，適用于各種行業(yè)的使用需求。

摘要 掃描電子顯微鏡SEM3000S

摘要 掃描電子顯微鏡SEM3000

摘要型號(hào)：AO-HC200B總放大倍數(shù)：10X~220X連續(xù)變倍輸出模式：HDMI高清輸出：HDMI高清輸出功能：拍照、錄像、十字線、HDR寬動(dòng)態(tài) 操作方式：按鍵操作幀率：60FPS輸出接口：HDMI接屏照明方式：LED亮度可調(diào)，使用壽命長(zhǎng)使用領(lǐng)域：電子工廠、PCB、科研...

摘要 CT-NANO是一款功能全面的掃描電子顯微鏡，可對(duì)輕金屬合金和纖維復(fù)合材料等樣品進(jìn)行納米CT測(cè)量

摘要 日本電子JSM-7500F 冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 日立 S-3700N掃描電子顯微鏡

摘要 日立 SU3500掃描電子顯微鏡

摘要 蔡司 EVO 系列模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用

摘要 德國(guó)蔡司Sigma 系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡