PHI4700俄歇電子能譜儀 俄歇電子能譜是透過使用電子束擊打在固體樣品上時，去分析被激發(fā)出的俄歇電子動能，以獲取有關(guān)樣品元素組成的信息。PHI4700薄膜分析儀，使用了世界進(jìn)行各種樣品的俄歇表面分析和深度分析。再配上了PHI 公司在業(yè)界取得非常成功的SmartSoft軟件，讓操作更加簡化。造就PHI 4700 成為世界上*臺高自動化的俄歇電子能譜薄膜分析儀。

PHI4700俄歇電子能譜儀 儀器特點(diǎn)： 1、擁有的靈敏度與分析效率 2、強(qiáng)大的自動分析功能 3、配合SmartSoft-AES實現(xiàn)了簡易的操作模式

高靈敏度，高通量能量分析器與簡易自動化的俄歇深度分析，使的儀器成本效益可以輕易獲得PHI4700薄膜分析儀透過在SEM中快速的微米分析區(qū)域定位，可能快速的執(zhí)行并獲得 包括深度分析的分析結(jié)果。右例為手機(jī)鍍金電極的正常品與另一使用多年并且已變色的舊品的分析比較。就結(jié)果所見，變色的手機(jī)屏幕上，有著不預(yù)期的Ni（鎳）訊號擴(kuò)散到金鍍層，從而就知道了屏幕變色的原因。 

高通量分析儀配合上高靈敏度測量的自動化分析 高靈敏度分析使PHI  4700薄膜分析儀分析測量所使用的時間減少了。此外，由于儀器配備了自動測量的功能，讓 PHI 4700成為一個媲美高級的生產(chǎn)設(shè)備，可以在很短的時間測量多個樣品。 自動測量的設(shè)定只需要簡單的在樣品圖上加上需要的分析區(qū)域，排列成隊列后就由軟件自動進(jìn)行。