摘要NS系列膜厚臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。儀器采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術(shù)，使得儀...

摘要 中圖儀器NS系列接觸式臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。它對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數(shù)據(jù)復現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

摘要 中圖儀器NS臺階儀探針式表面輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。它可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

摘要 NS200國產(chǎn)臺階形貌儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優(yōu)勢。

摘要 NS200國產(chǎn)臺階膜厚儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優(yōu)勢。

摘要 NS系列臺階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

摘要 NS系列微觀表面臺階顯微檢測儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，500萬像素高分辨率彩色攝像機，即時進行高精度定位測量。可以將探針的形貌圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X上，使得測量更加直觀。

摘要 NS200臺階厚度測量儀能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料，是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀。

摘要 針對測量ITO導電薄膜的應用場景，NS系列臺階厚度儀結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺的全電動載物臺，能夠快速定位到測量標志位；對于批量樣件，提供自定義多區(qū)域測量功能，實現(xiàn)一鍵多點位測量；提供SPC統(tǒng)計分析功能，直觀分析測量數(shù)值變化趨勢。

摘要NS200探針式臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數(shù)據(jù)復現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用...

摘要 NS200國產(chǎn)臺階儀能夠測量幾個納米到330μm的臺階高度。這使其可以準確測量在蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料；可以測量表面的2D形狀或翹曲。也能夠測量在生產(chǎn)中包含多個工藝層的半導體或化合物半導體器件所產(chǎn)生的應力。

摘要 臺階儀

摘要 產(chǎn)品描述：Dektak Pro是布魯克新發(fā)布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4 ?重復性的優(yōu)異表現(xiàn)，并提供200毫米平臺選項

摘要 P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

摘要P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機械傳送臂系統(tǒng)提供了極低的擁有成本，適用于半導體，化合物半導體和相關(guān)行業(yè)。 P-170可以對臺...

摘要P-17是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經(jīng)驗的結(jié)晶。該系統(tǒng)業(yè)界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩(wěn)定性。 ...

摘要Alpha-Step D-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇...

摘要Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)...

摘要 KLA D-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產(chǎn)品介紹 Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產(chǎn)品介紹 KLA的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復性以及亞埃級的分辨率。

摘要 產(chǎn)品介紹 KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、 MEMS 、太陽能、光電子 以及其他領域中有著不俗的。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不 斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢。

摘要產(chǎn)品介紹 P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本，適用于半導體，化合物半導體和相關(guān)行業(yè)。 P-170可以對...

摘要 產(chǎn)品介紹 P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統(tǒng)業(yè)界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

摘要 產(chǎn)品介紹 Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感 器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 日本KOSAKA臺階儀ET200用于測量半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。

摘要 產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于4?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak 技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過整合其行業(yè)產(chǎn)品，DektakXT 實現(xiàn)了性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都...

摘要 臺階儀D-300/500

摘要 D-600可以對幾納米到1200µm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力進行測量。

摘要 P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，單次掃描高達200mm，無需圖像拼接測量。

摘要 Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量

摘要 品 牌：Bruker 產(chǎn) 地：德國 型 號：DEKTAK XT

摘要 日本KOSAKA ET200 臺階儀，日本KOSAKA ET200 臺階儀配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準確的定位測試區(qū)域。

摘要 超微力臺階儀/膜厚儀StylusSurfaceProfilometers簡介：超微力臺階儀/膜厚儀Alpha-StepIQ是探針接觸式表面輪廓儀(臺階儀.膜厚儀)

摘要 日本KOSAKAET200接觸式臺階儀日本KOSAKAET200接觸式臺階儀基于Windows操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等

摘要 布魯克DektakXT臺階儀

摘要 產(chǎn)品描述P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合

摘要 產(chǎn)品描述P-17臺式探針式輪廓儀是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經(jīng)驗的結(jié)晶

摘要 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量

摘要 產(chǎn)品描述P-7臺式探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境

摘要 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量

摘要 產(chǎn)品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-388光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)