一 產品描述
主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導體材料,石墨烯,透明導電膜,碳納米管,金屬等材料的電學特性。
1.1 主要特點
本儀器為非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,重復性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片等優(yōu)點。
1.2 技術參數(shù)
參數(shù) | 探頭 | 范圍 | 重復性 | 方法 |
量程 | 測錠探頭 | 0.01-2ohm cm | 2% | 渦流法 |
測片探頭(雙探頭) | 0.15-2000ohm/sq | 1% | ||
測量方式 | 熱機半小時后,靜態(tài)測試10次 | |||
存儲數(shù)據(jù) | 數(shù)據(jù)庫內部存儲(可自行導出表格文件)、PDF格式報告、CSV表格數(shù)據(jù) | |||
通訊接口 | 1路RS232 | |||
用電功率 | 600VA | |||
環(huán)境溫度 | 23 ±5°C | |||
電源要求 | 額定電壓(220±22)VAC 頻率(50±1)Hz | |||
外形尺寸 | 1315*450*530(長*寬*高 單位mm) |