摘要 130mm紅外激光干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF130-IR-LS635nm可見(jiàn)光共軸對(duì)準(zhǔn)，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用可靠

摘要 INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60-LP平面光學(xué)元件表面面型測(cè)量

摘要 INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150-LP平面光學(xué)元件的表面面型測(cè)量平面光學(xué)元件平行度測(cè)量

摘要 INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測(cè)量操作方便，使用簡(jiǎn)單波長(zhǎng)調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要 INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)平面元件的數(shù)字化測(cè)量！

摘要 INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF300V-LP測(cè)量光學(xué)平面面型精度測(cè)量光學(xué)元件的材料均勻性對(duì)干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF200V-LP中大口徑光學(xué)元件平面面型精度測(cè)量對(duì)干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF600-LP-WM雙端口檢測(cè)大口徑平面元件面型檢測(cè)光學(xué)材料均勻性測(cè)量元件面型分析，光學(xué)數(shù)據(jù)處理

摘要 INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF300H-LP-WM測(cè)量光學(xué)平面面型精度測(cè)量光學(xué)元件的材料均勻性對(duì)干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF800-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF800-LP-WM成像質(zhì)量良好 臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測(cè)量操作方便，使用簡(jiǎn)單波長(zhǎng)調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要 簡(jiǎn)介：激光干涉儀以光波為載體，其光波波長(zhǎng)可以直接對(duì)米進(jìn)行定義，且可以溯源至國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今*的高精度、高靈敏度的測(cè)量?jī)x器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

摘要 機(jī)床導(dǎo)軌線性測(cè)量、參數(shù)校正

摘要G60UP激光平面干涉儀通光口徑為60mm ,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能。G60DP激光平面干涉儀通光口徑為＜P60mm ,鏡頭下置，用于平面元件的低量快速檢測(cè)。主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、啕瓷等）表面面形、透過(guò)波前、光學(xué)平行度和材料均勻性的測(cè)試，...

摘要G30 G60 激光干涉儀通光口徑為30mm,60mm,儀器具備良好的隔振性能。用于平面檢測(cè)（透過(guò)、反射），標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.6, F0.7,F1.0, F1.4, F2.0, F2.8, F5.6,可定制其他F數(shù)的鏡頭；也可選配平面標(biāo)準(zhǔn)鏡及相關(guān)治具測(cè)量平面鏡。 ...

摘要G60UII正立式激光干涉儀通光口徑為60mm,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能，適合光學(xué)車間現(xiàn)場(chǎng)的制程檢驗(yàn)，拼盤(pán)檢驗(yàn)，小批量多品種的光學(xué)鏡片檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.6 , F0.7 , F1.0 , F1.4 , F1.5 , F2.0 , F2.8 , F3.3 ,...

摘要S100D倒置式激光干涉儀通光口徑為100mm ,鏡頭下置，儀器具備良好的隔振性能，適合車間大尺寸球面透鏡和平面鏡的大批量快速檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.65 , F0.75 , F1.0 , F1.5 , F2.2 , F3.3 , F5.0 , F7.1, F10.7 ...

摘要立式激光平面干涉儀為正立式結(jié)構(gòu)，通光口徑有200mm,150mm和100mm三種，適合平面元件的快速測(cè)試。 G200M,G150M和G100M專為計(jì)量和科研需求設(shè)計(jì)，適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集高性能、長(zhǎng)壽命氦氖激光器，1-6倍圖像放大功能，高精度的成...

摘要在有些應(yīng)用，根據(jù)樣品的形狀、裝夾方法、或者模擬樣品使用狀態(tài)下測(cè)量，正立式干涉儀結(jié)構(gòu)相比臥式和倒立式更有優(yōu)勢(shì)。例如半球形球罩面形和曲率半徑的測(cè)量，正立式結(jié)構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)盤(pán)上測(cè)量以及下盤(pán)后的無(wú)夾持應(yīng)力測(cè)量，而臥式結(jié)構(gòu)無(wú)法夾持半球，倒立式結(jié)構(gòu)測(cè)量盤(pán)上時(shí)需要支撐樣品和磨盤(pán)的重力，...

摘要 嚴(yán)格情況下，要求按照元件的使用狀態(tài)測(cè)量，例如很多窗口、反射鏡和半導(dǎo)體晶圓等。G400U和G300U的通光口徑分別為400mm和300mm。為鏡頭上置、光路向下的結(jié)構(gòu)，適合對(duì)樣品的平放測(cè)量。

摘要大口徑激光干涉儀有效通光口徑有600mm, 450mm和300mm,均是雙路測(cè)量系統(tǒng)：一路是100mm （4英寸）或150mm（6英寸）小口徑測(cè)量系統(tǒng)，另一路是大口徑平面測(cè)量系統(tǒng)。小口徑系統(tǒng)可以進(jìn)行平面元件和球面元件的測(cè)量。大口徑平面測(cè)量系統(tǒng)從100mm口徑擴(kuò)束到60...

摘要 儀器簡(jiǎn)介：ML10Gold高性能激光干涉儀是機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器

摘要 動(dòng)態(tài)、超精密,嵌入式測(cè)量，專業(yè)用戶的選擇.ZD-D1500是國(guó)內(nèi)C9大學(xué)、北京合創(chuàng)智達(dá)光電科技有限公司聯(lián)合研發(fā)的新一代快速超精密激光干涉儀。

摘要 Chotest SJ6000激光干涉儀

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測(cè)量定位誤差和重復(fù)定位精度3D激光可以測(cè)量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測(cè)量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動(dòng)角在選擇無(wú)線遙控傳感器的情況下，最長(zhǎng)的測(cè)量距離可到45米（80米可選）

摘要 激光干涉儀技術(shù)規(guī)格書(shū)隨著光通訊行業(yè)的飛速發(fā)展，特別是通訊行業(yè)手機(jī)、平板等對(duì)成像質(zhì)量要求的不斷提高，必須對(duì)手機(jī)面板攝像孔的光學(xué)玻璃的透射波前進(jìn)行檢測(cè)和分析

摘要 產(chǎn)品介紹：美國(guó)ZYGO激光干涉儀DynaFiz 新型的ZYGO DynaFiz激光干涉儀是特別設(shè)計(jì)為在有空氣湍流和振動(dòng)的環(huán)境中進(jìn)行精確的光學(xué)計(jì)量的優(yōu)化的光學(xué)儀器。DynaFiz 光學(xué)系統(tǒng)的長(zhǎng)壽命，高功率氦氖激

摘要 產(chǎn)品介紹：美國(guó)ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運(yùn)用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測(cè)量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國(guó)甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：美國(guó)ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運(yùn)用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測(cè)量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國(guó)甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：菲索型激光干涉儀，具有的環(huán)形光源偽跡消除抑制技術(shù)，是一種高 精度、共光路面形計(jì)量干涉儀。ZYGO新一代激光干涉儀系列--VeriFire?激光干涉儀，繼承了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GPI?激光干涉儀系

摘要 簡(jiǎn)要描述：激光干涉儀手機(jī)面板攝像孔透射波前檢測(cè)

摘要 XD Laser激光干 涉儀是API公司的產(chǎn)品。-次安裝即可以測(cè)得6個(gè)參數(shù)，包括1個(gè)位置度誤差、2個(gè)直線度誤差和3個(gè)角度誤差。通常時(shí)間需數(shù)天進(jìn)行的測(cè)試，使用AP|激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成。實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明:可節(jié)省時(shí)間高達(dá)80%。

摘要 儀器名稱：激光干涉儀品牌:雷尼紹型號(hào)：ML10Gold產(chǎn)地：英國(guó)儀器介紹：1.ML10Gold高性能激光干涉儀是機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長(zhǎng)可以直接對(duì)米進(jìn)行定義，且可以溯源至國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今*的高精度、高靈敏度的測(cè)量?jī)x器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛?！　J6000激光干涉儀集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進(jìn)口高性能氦氖激光器，其壽命可達(dá)50000小時(shí)；采用激光雙縱模熱...

摘要 產(chǎn)品參數(shù)：XL80高性能鐳射干涉儀是機(jī)床、三次元坐標(biāo)量床及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器,由于電子技術(shù)的應(yīng)用,使其鐳射波長(zhǎng)非常穩(wěn)定并保持了低成本高效率的工作流程

摘要 雙光束激光干涉儀專門(mén)用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測(cè)試。大量樣品測(cè)試的重復(fù)精度可達(dá)2%以上。

摘要 產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)Hi-Smarc-Ⅲ-PO激光干涉儀主要功能：測(cè)量平面光學(xué)元件的表面面形和透射光學(xué)元件的綜合波前a)類型：菲索干涉原理b)口徑：φ25.4mmc)顯示方式：CCD+顯示器d)光源：半導(dǎo)體激光

摘要 【產(chǎn)品名稱】：英國(guó)雷尼紹XL-80激光干涉儀【產(chǎn)品規(guī)格】：英國(guó)雷尼紹XL-80激光干涉儀【詳細(xì)內(nèi)容】XL-80主要優(yōu)點(diǎn)雷尼紹設(shè)計(jì)、制造和提供激光系統(tǒng)已有近二十年的歷史

摘要 立式接觸式干涉儀是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量，是各級(jí)計(jì)量室的基本長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器之一。

摘要 立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量，是各級(jí)計(jì)量室的基本長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器之一。

摘要 1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動(dòng)與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動(dòng)性的特性。

摘要 主要用于平面類光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過(guò)優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測(cè)量?！?/p> 在線詢價(jià)

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：MT21產(chǎn)品名稱：MT21無(wú)線球桿儀通信方式：藍(lán)牙傳輸（典型值10m）供電方式：鋰電池分辨率：0

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：SJ6000產(chǎn)品名稱：SJ6000激光干涉儀測(cè)量方式：?jiǎn)晤l穩(wěn)頻精度：0

摘要 白光干涉儀產(chǎn)品用途結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微鏡與干涉儀，不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨力、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)

摘要 光纖端面檢測(cè)干涉儀VFI-200是一種干涉檢測(cè)系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平整度