摘要Chotest SJ6000激光干涉儀 產(chǎn)品簡介：SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品采用美國進(jìn)口高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高精度環(huán)境補(bǔ)償模塊、幾何參量干涉光路設(shè)計(jì)、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測...

摘要 雷尼紹激光干涉儀

摘要 激光干涉儀

摘要 ZYGO 大口徑激光干涉儀由4英寸激光干涉儀主機(jī)經(jīng)過擴(kuò)束為大口徑系統(tǒng)，通常為雙通道，即4英寸測量通道和大口徑測量通道，具有多種高精度測量模式，如相位調(diào)制、波長調(diào)制、動態(tài)測量等。

摘要 SJ6800激光干涉儀

摘要 產(chǎn)品風(fēng)格：一鍵測量儀 產(chǎn)品簡介：SJ6000激光干涉儀...

摘要 雷尼紹激光干涉儀系統(tǒng) XL-80

摘要 F-YPGS3060激光干涉儀He-Ne激光器的穩(wěn)頻、線偏振光、圓偏振光、晶體雙折射、1/4波片、1/2波片、圓偏振光的分解與合成、邁克爾遜干涉儀，壓電效應(yīng)，偏振分光棱鏡，角錐棱鏡鏡、圓偏振光干涉，干涉信號的拾取與處理、微小位移位移的精密測量

摘要 F-SPJG3050雙頻激光干涉儀激光的塞曼效應(yīng)He-Ne激光器在縱向磁場中的塞曼分裂

摘要 1.產(chǎn)品簡介PhaseCam6000系列干涉儀是美國4D技術(shù)公司的經(jīng)典產(chǎn)品，適用于大口徑，長距離光學(xué)組件和系統(tǒng)的測量

摘要 1.產(chǎn)品簡介PhaseCam6110高分辨率類型激光干涉儀是PhaseCam6000系列激光干涉儀的另一種型號，有助于提高大孔徑光學(xué)元件表面測量的分辨率，適用于數(shù)字處理和高分辨率系統(tǒng)調(diào)整

摘要 130mm紅外激光干涉儀產(chǎn)品型號：INF130-IR-LS635nm可見光共軸對準(zhǔn)，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用可靠

摘要 INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF60-LP平面光學(xué)元件表面面型測量

摘要 INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150-LP平面光學(xué)元件的表面面型測量平面光學(xué)元件平行度測量

摘要 INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要 INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)場平面元件的數(shù)字化測量！

摘要 INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300V-LP測量光學(xué)平面面型精度測量光學(xué)元件的材料均勻性對干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF200V-LP中大口徑光學(xué)元件平面面型精度測量對干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學(xué)材料均勻性測量元件面型分析，光學(xué)數(shù)據(jù)處理

摘要 INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300H-LP-WM測量光學(xué)平面面型精度測量光學(xué)元件的材料均勻性對干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

摘要 INF800-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF800-LP-WM成像質(zhì)量良好 臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

摘要 簡介：激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進(jìn)行定義，且可以溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

摘要 機(jī)床導(dǎo)軌線性測量、參數(shù)校正

摘要G60UP激光平面干涉儀通光口徑為60mm ,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能。G60DP激光平面干涉儀通光口徑為＜P60mm ,鏡頭下置，用于平面元件的低量快速檢測。主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、啕瓷等）表面面形、透過波前、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試，...

摘要G30 G60 激光干涉儀通光口徑為30mm,60mm,儀器具備良好的隔振性能。用于平面檢測（透過、反射），標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.6, F0.7,F1.0, F1.4, F2.0, F2.8, F5.6,可定制其他F數(shù)的鏡頭；也可選配平面標(biāo)準(zhǔn)鏡及相關(guān)治具測量平面鏡。 ...

摘要G60UII正立式激光干涉儀通光口徑為60mm,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能，適合光學(xué)車間現(xiàn)場的制程檢驗(yàn)，拼盤檢驗(yàn)，小批量多品種的光學(xué)鏡片檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.6 , F0.7 , F1.0 , F1.4 , F1.5 , F2.0 , F2.8 , F3.3 ,...

摘要S100D倒置式激光干涉儀通光口徑為100mm ,鏡頭下置，儀器具備良好的隔振性能，適合車間大尺寸球面透鏡和平面鏡的大批量快速檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭有F0.65 , F0.75 , F1.0 , F1.5 , F2.2 , F3.3 , F5.0 , F7.1, F10.7 ...

摘要立式激光平面干涉儀為正立式結(jié)構(gòu)，通光口徑有200mm,150mm和100mm三種，適合平面元件的快速測試。 G200M,G150M和G100M專為計(jì)量和科研需求設(shè)計(jì)，適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6倍圖像放大功能，高精度的成...

摘要在有些應(yīng)用，根據(jù)樣品的形狀、裝夾方法、或者模擬樣品使用狀態(tài)下測量，正立式干涉儀結(jié)構(gòu)相比臥式和倒立式更有優(yōu)勢。例如半球形球罩面形和曲率半徑的測量，正立式結(jié)構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)盤上測量以及下盤后的無夾持應(yīng)力測量，而臥式結(jié)構(gòu)無法夾持半球，倒立式結(jié)構(gòu)測量盤上時(shí)需要支撐樣品和磨盤的重力，...

摘要 嚴(yán)格情況下，要求按照元件的使用狀態(tài)測量，例如很多窗口、反射鏡和半導(dǎo)體晶圓等。G400U和G300U的通光口徑分別為400mm和300mm。為鏡頭上置、光路向下的結(jié)構(gòu)，適合對樣品的平放測量。

摘要大口徑激光干涉儀有效通光口徑有600mm, 450mm和300mm,均是雙路測量系統(tǒng)：一路是100mm （4英寸）或150mm（6英寸）小口徑測量系統(tǒng)，另一路是大口徑平面測量系統(tǒng)。小口徑系統(tǒng)可以進(jìn)行平面元件和球面元件的測量。大口徑平面測量系統(tǒng)從100mm口徑擴(kuò)束到60...

摘要 儀器簡介：ML10Gold高性能激光干涉儀是機(jī)床、三坐標(biāo)測量機(jī)及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器

摘要 動態(tài)、超精密,嵌入式測量，專業(yè)用戶的選擇.ZD-D1500是國內(nèi)C9大學(xué)、北京合創(chuàng)智達(dá)光電科技有限公司聯(lián)合研發(fā)的新一代快速超精密激光干涉儀。

摘要 Chotest SJ6000激光干涉儀

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復(fù)定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 激光干涉儀技術(shù)規(guī)格書隨著光通訊行業(yè)的飛速發(fā)展，特別是通訊行業(yè)手機(jī)、平板等對成像質(zhì)量要求的不斷提高，必須對手機(jī)面板攝像孔的光學(xué)玻璃的透射波前進(jìn)行檢測和分析

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀DynaFiz 新型的ZYGO DynaFiz激光干涉儀是特別設(shè)計(jì)為在有空氣湍流和振動的環(huán)境中進(jìn)行精確的光學(xué)計(jì)量的優(yōu)化的光學(xué)儀器。DynaFiz 光學(xué)系統(tǒng)的長壽命，高功率氦氖激

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運(yùn)用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運(yùn)用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質(zhì)量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產(chǎn)品介紹：菲索型激光干涉儀，具有的環(huán)形光源偽跡消除抑制技術(shù)，是一種高 精度、共光路面形計(jì)量干涉儀。ZYGO新一代激光干涉儀系列--VeriFire?激光干涉儀，繼承了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GPI?激光干涉儀系

摘要 簡要描述：激光干涉儀手機(jī)面板攝像孔透射波前檢測

摘要 XD Laser激光干 涉儀是API公司的產(chǎn)品。-次安裝即可以測得6個(gè)參數(shù)，包括1個(gè)位置度誤差、2個(gè)直線度誤差和3個(gè)角度誤差。通常時(shí)間需數(shù)天進(jìn)行的測試，使用AP|激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成。實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明:可節(jié)省時(shí)間高達(dá)80%。

摘要 儀器名稱：激光干涉儀品牌:雷尼紹型號：ML10Gold產(chǎn)地：英國儀器介紹：1.ML10Gold高性能激光干涉儀是機(jī)床、三坐標(biāo)測量機(jī)及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進(jìn)行定義，且可以溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛?！　J6000激光干涉儀集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進(jìn)口高性能氦氖激光器，其壽命可達(dá)50000小時(shí)；采用激光雙縱模熱...

摘要 產(chǎn)品參數(shù)：XL80高性能鐳射干涉儀是機(jī)床、三次元坐標(biāo)量床及其它定位裝置精度校準(zhǔn)用的高性能儀器,由于電子技術(shù)的應(yīng)用,使其鐳射波長非常穩(wěn)定并保持了低成本高效率的工作流程