摘要 產(chǎn)/品/介/紹DETAILEDDESCRIRTION 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 德國SP激光干涉儀測量系統(tǒng)的三維角度器 - 同樣適用于直線度激光測量系統(tǒng)! (BG 840260) 該角度器內(nèi)置可旋轉(zhuǎn)的3D棱鏡（180°的范圍內(nèi)每次旋轉(zhuǎn)15°），德國SP激光干涉儀測量系統(tǒng)通過該角度器可非常便捷地進行2軸測量。

摘要 XD 激光干涉儀，能夠 一次安裝同時測量 數(shù)控直線軸的線性定位誤差(包括定位精度、重復定位精度、反向間隙)、直線度（XX 方向和YY 方向）等三個參數(shù)，測量效率相比傳統(tǒng)激光干涉儀提高三倍以上。該配置還可以通過選配件來測量兩個直線軸的垂直度、小角度精度等。

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 -儀器介紹本款精密激光干涉儀可開展經(jīng)典的邁克耳遜干涉，法布里-珀涉和泰曼-格林干涉實驗

摘要 SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率高、測量范圍大等優(yōu)點

摘要?APIXD激光干涉儀XDAPIXD激光干涉儀XD產(chǎn)品介紹XD激光干涉儀XD1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最...

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 廠商名稱產(chǎn)品名稱產(chǎn)品訂貨號貨期（周）產(chǎn)品價格中國激光干涉儀器A631740洽詢洽詢產(chǎn)品特點配置方式立式、臥式配置平面總成

摘要 原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 英國RenishawXL-80激光測量系統(tǒng)新型RenishawXL-80激光測量系統(tǒng)為坐標測量機和機床等運動系統(tǒng)提供高性能精度校準

摘要 Agilent5530雙頻激光干涉儀---以激光計量的國際標準驗證機床的性能※優(yōu)化三坐標機和機床的性能※改善過程控制和降低成本※驗證機床的精度的技術特點：1

摘要 激光干涉儀

摘要 1.產(chǎn)品簡介　　激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 API XD激光干涉儀可以一次裝夾測量六個參數(shù)包括定位精度、重復定位精度、直線度及角度。用于數(shù)控機床和三座標測量機的標定及校準。通常時間需數(shù)天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結(jié)果表明：可節(jié)省時間高達80%。

摘要 XL-80系統(tǒng)快速、精確，而且非常輕便，因此它成為銷量*好的激光校準系統(tǒng)絲毫不足為奇。XL-80采用*的軟件解決方案，具有優(yōu)異的性能，可以幫助您顯著提高企業(yè)效益。

摘要 全自動空間校準補償

摘要 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 XD LASER激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品，體積小，重量輕，可直接安裝到機床導軌上，應用于CMM和CNC的校準和補償、機床導軌平行度的測量、旋轉(zhuǎn)軸的測量、垂直度的測量、對角線的測量、機器人位置反饋。

摘要 XL-80激光干涉儀

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6000激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、測速下分辨率高等優(yōu)點，結(jié)合不同的光學鏡組，可實現(xiàn)線性測長、角度、直線度、...

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6800高精度激光干涉儀集光、機、電、計算機等技術于一體，產(chǎn)品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時；采用激光雙縱模熱...

摘要 XD激光干涉儀

摘要 5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差。在通常情況下需要數(shù)天時間進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成，實際應用結(jié)果表明，節(jié)省時間可達80%。

摘要Verifire™ Asphere™激光干涉儀在ZYGO工業(yè)級Metropro軟件平臺上運行。除了具有測量非球面的能力，還能作為平面、非球面和曲率半徑測量的立體終端。Verifire™ Asphere™激光干涉儀*的軟件...

摘要 可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

摘要GPI激光干涉儀可應用于：平面和球面的面形檢測;平面楔角測量、直角棱鏡的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光學材料均勻性測量;GPI激光干涉儀可應用于角錐角度和面形偏差測量 ;精密盤片質(zhì)量檢驗 ;三平板優(yōu)良測量 ;雙球面優(yōu)良測量 ;靜態(tài)干涉條紋判斷 ;澤尼克多項式分析 ...

摘要 Verifire™ QPZ激光干涉儀

摘要 Verifire™ XPZ激光干涉儀

摘要 高精度的光學元件和光學系統(tǒng)需要高性能的測量技術和方法

摘要DynaFiz 激光干涉儀:在空氣湍流和振動的環(huán)境下進行動態(tài)測量 ;DynaFiz 激光干涉儀優(yōu)化的光學系統(tǒng)提供了清晰可見的中間空間頻率特征 ;LivePhase™ 軟件可以進行實時Zernike分析 ;Movie模式獲取隨時間變化的波前 ;DynaFiz...

摘要SJ6000激光干涉儀 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。集光、機、電、計算機等技術于一體，產(chǎn)品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時...

摘要Chotest SJ6000激光干涉儀 產(chǎn)品簡介：SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品采用美國進口高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術、高精度環(huán)境補償模塊、幾何參量干涉光路設計、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術，實現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測...

摘要 雷尼紹激光干涉儀

摘要 激光干涉儀

摘要 ZYGO 大口徑激光干涉儀由4英寸激光干涉儀主機經(jīng)過擴束為大口徑系統(tǒng)，通常為雙通道，即4英寸測量通道和大口徑測量通道，具有多種高精度測量模式，如相位調(diào)制、波長調(diào)制、動態(tài)測量等。

摘要 SJ6800激光干涉儀

摘要 產(chǎn)品風格：一鍵測量儀 產(chǎn)品簡介：SJ6000激光干涉儀...

摘要 雷尼紹激光干涉儀系統(tǒng) XL-80

摘要 F-YPGS3060激光干涉儀He-Ne激光器的穩(wěn)頻、線偏振光、圓偏振光、晶體雙折射、1/4波片、1/2波片、圓偏振光的分解與合成、邁克爾遜干涉儀，壓電效應，偏振分光棱鏡，角錐棱鏡鏡、圓偏振光干涉，干涉信號的拾取與處理、微小位移位移的精密測量

摘要 F-SPJG3050雙頻激光干涉儀激光的塞曼效應He-Ne激光器在縱向磁場中的塞曼分裂

摘要 1.產(chǎn)品簡介PhaseCam6000系列干涉儀是美國4D技術公司的經(jīng)典產(chǎn)品，適用于大口徑，長距離光學組件和系統(tǒng)的測量

摘要 1.產(chǎn)品簡介PhaseCam6110高分辨率類型激光干涉儀是PhaseCam6000系列激光干涉儀的另一種型號，有助于提高大孔徑光學元件表面測量的分辨率，適用于數(shù)字處理和高分辨率系統(tǒng)調(diào)整