摘要 XDLaser激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品，一次安裝即可測得6個參數(shù)，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差和3個角度誤差

摘要 用途和特點：XQ15-G3實用型激光平面干涉儀在保留XQ15-G1激光平面干涉儀的用途及特點的狀況下，更具實用性，可更廣泛適用于大批量生產(chǎn)單位的生產(chǎn)車間

摘要 用途:本司自行設計、制作的XQ60-G1型便攜式激光平面干涉儀近期己完成樣機的總裝與調(diào)試

摘要 用途和特點：XQ15-G2數(shù)字式激光平面干涉儀可廣泛適用于計量實驗室對高精度平面的平面度檢測和鑒定

摘要 用途：XQ15-G1激光平面干涉儀可廣泛用于工廠的計量室、光學車間和科研院所的實驗室

摘要 1、激光平面干涉儀的主要用途和特點

摘要 天津XL-80激光干涉儀系統(tǒng)雷尼紹XL-80激光干涉儀為坐標測量機(CMM)和機床等運動系統(tǒng)提供高性能測量和校準

摘要 Bosch GTL3 激光校準儀項目90度線的平方。這些行位于激光基地，Bosch GTL3 激光校準儀為您提供精確的調(diào)節(jié)，易于定心過點的前面。這墻/地板覆蓋激光利用璀璨奪目和高度可見的激光線，以確保您進行每次測量是準確的。

摘要 激光干涉儀采用相移技術準確表征被測表面的三維形貌，測量精度 Pv 高達 0.06μm 甚至更高，廣泛用于平面光學元件高精度檢測。

摘要 激光干涉儀采用相移技術準確表征被測表面的三維形貌，測量精度高達 0.06um 甚至更高，廣泛用于平面光學元件高精度檢測。

摘要 SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率高、測量范圍大等優(yōu)點

摘要 CDW-3000S-DT激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設備

摘要 激光平面干涉儀用途：可廣泛用于工廠的計量室、光學車間和科研院所的實驗室

摘要 CDW-3000S-MO激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設備

摘要 產(chǎn)品描述： 在線詢價

摘要 南京SJ6000激光干涉儀,淮安SJ6000激光干涉儀,穩(wěn)定性好。激光干涉儀是以光波為載體，以光波波長為單位的一種計量測試方法，是的高精度、高靈敏度的檢測手段，在制造領域應用廣泛。

摘要 產(chǎn)/品/介/紹DETAILEDDESCRIRTION 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 德國SP激光干涉儀測量系統(tǒng)的三維角度器 - 同樣適用于直線度激光測量系統(tǒng)! (BG 840260) 該角度器內(nèi)置可旋轉的3D棱鏡（180°的范圍內(nèi)每次旋轉15°），德國SP激光干涉儀測量系統(tǒng)通過該角度器可非常便捷地進行2軸測量。

摘要 XD 激光干涉儀，能夠 一次安裝同時測量 數(shù)控直線軸的線性定位誤差(包括定位精度、重復定位精度、反向間隙)、直線度（XX 方向和YY 方向）等三個參數(shù)，測量效率相比傳統(tǒng)激光干涉儀提高三倍以上。該配置還可以通過選配件來測量兩個直線軸的垂直度、小角度精度等。

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 -儀器介紹本款精密激光干涉儀可開展經(jīng)典的邁克耳遜干涉，法布里-珀涉和泰曼-格林干涉實驗

摘要 SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率高、測量范圍大等優(yōu)點

摘要?APIXD激光干涉儀XDAPIXD激光干涉儀XD產(chǎn)品介紹XD激光干涉儀XD1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最...

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 廠商名稱產(chǎn)品名稱產(chǎn)品訂貨號貨期（周）產(chǎn)品價格中國激光干涉儀器A631740洽詢洽詢產(chǎn)品特點配置方式立式、臥式配置平面總成

摘要 原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 英國RenishawXL-80激光測量系統(tǒng)新型RenishawXL-80激光測量系統(tǒng)為坐標測量機和機床等運動系統(tǒng)提供高性能精度校準

摘要 Agilent5530雙頻激光干涉儀---以激光計量的國際標準驗證機床的性能※優(yōu)化三坐標機和機床的性能※改善過程控制和降低成本※驗證機床的精度的技術特點：1

摘要 激光干涉儀

摘要 1.產(chǎn)品簡介　　激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 API XD激光干涉儀可以一次裝夾測量六個參數(shù)包括定位精度、重復定位精度、直線度及角度。用于數(shù)控機床和三座標測量機的標定及校準。通常時間需數(shù)天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結果表明：可節(jié)省時間高達80%。

摘要 XL-80系統(tǒng)快速、精確，而且非常輕便，因此它成為銷量*好的激光校準系統(tǒng)絲毫不足為奇。XL-80采用*的軟件解決方案，具有優(yōu)異的性能，可以幫助您顯著提高企業(yè)效益。

摘要 全自動空間校準補償

摘要 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 XD LASER激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品，體積小，重量輕，可直接安裝到機床導軌上，應用于CMM和CNC的校準和補償、機床導軌平行度的測量、旋轉軸的測量、垂直度的測量、對角線的測量、機器人位置反饋。

摘要 XL-80激光干涉儀

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6000激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、測速下分辨率高等優(yōu)點，結合不同的光學鏡組，可實現(xiàn)線性測長、角度、直線度、...

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6800高精度激光干涉儀集光、機、電、計算機等技術于一體，產(chǎn)品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時；采用激光雙縱模熱...

摘要 XD激光干涉儀

摘要 5D/6D激光干涉儀是API的產(chǎn)品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差。在通常情況下需要數(shù)天時間進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成，實際應用結果表明，節(jié)省時間可達80%。

摘要Verifire™ Asphere™激光干涉儀在ZYGO工業(yè)級Metropro軟件平臺上運行。除了具有測量非球面的能力，還能作為平面、非球面和曲率半徑測量的立體終端。Verifire™ Asphere™激光干涉儀*的軟件...

摘要 可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

摘要GPI激光干涉儀可應用于：平面和球面的面形檢測;平面楔角測量、直角棱鏡的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光學材料均勻性測量;GPI激光干涉儀可應用于角錐角度和面形偏差測量 ;精密盤片質量檢驗 ;三平板優(yōu)良測量 ;雙球面優(yōu)良測量 ;靜態(tài)干涉條紋判斷 ;澤尼克多項式分析 ...